Сортировать по:
| Выпуск | Название | |
| Том 9, № 3 (2018) | Измерение локальных остаточных напряжений в полупроводниковых кремниевых структурах | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| С. Ф. Сенько, В. А. Зеленин | ||
| "... Residual stress distribution in multilayer semiconductor structure is complicated and has ..." | ||
| Том 10, № 1 (2019) | Прибор и методики измерения акустической анизотропии и остаточных напряжений металла магистральных газопроводов | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Л. B. Волкова, О. В. Муравьева, В. В. Муравьев, И. В. Булдакова | ||
| "... of main gas pipelines based on the evaluation of the stress-strain state, elastic moduli and properties ..." | ||
| Том 12, № 2 (2021) | Приборный ряд фотоэлектрических преобразователей на основе полупроводников с собственной фотопроводимостью | Аннотация похожие документы |
| Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин, К. В. Пантелеев, А. И. Свистун, А. К. Тявловский, К. Л. Тявловский, Л. И. Шадурская | ||
| "... converters based on semiconductors with intrinsic photoconductivity slightly doped with deep impurities which ..." | ||
| Том 12, № 1 (2021) | Схема элемента Пельтье на полупроводниках с прыжковым переносом электронов по дефектам | Аннотация похожие документы |
| Н. А. Поклонский, С. А. Вырко, А. И. Ковалев, И. И. Аникеев, Н. И. Горбачук | ||
| "... The study of thermoelectric properties of crystalline semiconductors with structural defects ..." | ||
| Том 12, № 3 (2021) | Низкочастотный адмиттанс конденсатора с рабочим веществом «изолятор – частично разупорядоченный полупроводник – изолятор» | Аннотация похожие документы |
| Н. А. Поклонский, И. И. Аникеев, С. А. Вырко | ||
| "... The study of the electrophysical characteristics of crystalline semiconductors with structural ..." | ||
| Том 8, № 3 (2017) | ОЦЕНКА НАПРЯЖЕННО-ДЕФОРМИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ РЕЛЬСОВ ПРИ ИЗГОТОВЛЕНИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. В. Муравьев, К. А. Тапков | ||
| "... High values of residual stresses is one of the most common reason of breaking lots of metal ..." | ||
| № 2 (2011) | АЛГОРИТМ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ШИРОКОДИАПАЗОННЫХ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ С МНОГОЗАРЯДНЫМИ ПРИМЕСЯМИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| О. К. Гусев, А. И. Свистун, Л. И. Шадурская, Н. В. Яржембицкая | ||
| "... Metrological features of photovoltaic semiconductor converters (PSC) based on semiconductors ..." | ||
| № 1 (2014) | КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ТЕРМООБРАБОТКИ ИЗДЕЛИЙ ИЗ КОНСТРУКЦИОННЫХ СРЕДНЕУГЛЕРОДИСТЫХ СТАЛЕЙ НА ОСНОВЕ ДВУХПОЛЯРНОГО ИМПУЛЬСНОГО ПЕРЕМАГНИЧИВАНИЯ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. Ф. Матюк, В. А. Бурак | ||
| № 1 (2011) | РАЗРАБОТКА НОВОГО ПРИБОРА ДЛЯ МАГНИТНОЙ СТРУКТУРОСКОПИИ НА ОСНОВЕ ОСОБЕННОСТЕЙ ГИСТЕРЕЗИСА ОСТАТОЧНОЙ НАМАГНИЧЕННОСТИ ПРИ ИМПУЛЬСНОМ ПЕРЕМАГНИЧИВАНИИ ИЗДЕЛИЯ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. Ф. Матюк, М. А. Мельгуй | ||
| "... The hysteresis effect of the normal component of the residual magnetization field strength during ..." | ||
| Том 14, № 2 (2023) | Применение метода дифракции рентгеновских лучей для изучения напряжённого состояния поверхности металла при статическом и ударном деформировании | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. П. Крень, М. Н. Делендик, О. В. Мацулевич, О. К. Гусев, К. В. Пантелеев, Р. И. Воробей | ||
| "... Study of the stress field in a plastic imprint and around it is of great practical importance ..." | ||
| № 2 (2012) | ПРИНЦИПЫ ПОСТРОЕНИЯ И СТРУКТУРНЫЕ СХЕМЫ ЗОНДОВЫХ АВТОМАТИЧЕСКИХ СИСТЕМ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ИЗДЕЛИЙ МИКРОИ НАНОЭЛЕКТРОНИКИ НА ПЛАСТИНЕ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. А. Минченко, Г. Ф. Ковальчук, С. Б. Школык | ||
| "... автоматическом зондировании полупроводниковых пластин. ..." | ||
| Том 15, № 1 (2024) | Газочувствительные характеристики маломощных полупроводниковых газовых сенсоров при воздействии СО и H2 | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| И. А. Таратын, О. Г. Реутская, Г. Г. Горох, И. В. Сердюк, В. С. Федосенко | ||
| "... it is relevant to develop of semiconductor sensors which provide rapid response and safety of personnel ..." | ||
| Том 9, № 1 (2018) | ОЦЕНКА РАЗМЕРОВ ТОПОГРАФИЧЕСКИХ ДЕФЕКТОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КРЕМНИЕВЫХ СТРУКТУР | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| С. Ф. Сенько, В. А. Зеленин | ||
| "... The effect of non-flatness of semiconductor wafers on characteristics of manufactured devices ..." | ||
| Том 9, № 4 (2018) | Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика полупроводниковых приборов | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. А. Солодуха, В. А. Пилипенко, Г. Г. Чигирь, В. А. Филипеня, В. А. Горушко | ||
| "... The key element determining stability of the semiconductor devices is a gate dielectric. As its ..." | ||
| Том 14, № 3 (2023) | Универсальный цифровой зондовый электрометр для контроля полупроводниковых пластин | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. Л. Жарин, В. А. Микитевич, А. И. Свистун, К. В. Пантелеев | ||
| "... Non-contact electrical methods are widely used for research and control of semiconductor wafers ..." | ||
| Том 12, № 3 (2021) | Оценка точности измерения магнитоотрывного усилия датчиками прибора НТ-800 для раннего выявления дефектов их изготовления | Аннотация похожие документы |
| А. Ю. Кутепов, А. П. Крень, Е. В. Гнутенко | ||
| "... , пропорциональной магнитоотрывному усилию (имеющей корреляционную связь с остаточными напряжениями), прибором НТ-800 ..." | ||
| Том 16, № 1 (2025) | Выявление скрытых дефектов алюминиевых подложек для сенсорных устройств после термомеханической обработки с помощью сканирующего зонда Кельвина | Аннотация похожие документы |
| А. Л. Жарин, И. В. Гасенкова, А. К. Тявловский, Н. И. Мухуров, С. И. Спицкий | ||
| "... . The subject of the study was the detection of residual mechanical stresses and other surface defects to assess ..." | ||
| Том 16, № 1 (2025) | Отражательно-абсорбционная ИК Фурье-спектроскопия фоторезистивных плёнок на кремнии | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Д. И. Бринкевич, Е. В. Гринюк, В. С. Просолович, С. Д. Бринкевич, В. В. Колос, О. А. Зубова | ||
| "... semiconductor electronics devices’s manufacturing. The most intense in the reflective absorption spectra of AZ ..." | ||
| № 2 (2014) | РЕЖИМ САМОКАЛИБРОВКИ ЗОНДА КЕЛЬВИНА ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин, А. Н. Петлицкий, В. А. Пилипенко, А. С. Турцевич, А. К. Тявловский | ||
| "... Improvement of repeatability and reliability of semiconductor wafers properties monitoring ..." | ||
| № 2 (2011) | ПРОЗРАЧНОМЕРЫ-ГАЗОАНАЛИЗАТОРЫ НА ДВУХВОЛНОВОМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОМ ЛАЗЕРЕ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. Л. Козлов, М. М. Кугейко | ||
| № 1 (2010) | ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ДИСКОВЫЙ ЛАЗЕР С ПЕРЕСТРАИВАЕМОЙ ДЛИНОЙ ВОЛНЫ ИЗЛУЧЕНИЯ, ГЕНЕРИРУЮЩИЙ МЕТОДОМ РАЗГРУЗКИ РЕЗОНАТОРА ИМПУЛЬСЫ С ЭНЕРГИЕЙ НЕСКОЛЬКО МИКРОДЖОУЛЕ | Аннотация похожие документы |
| В. Г. Савицкий, С. Калвез, М. Д. Доусон | ||
| "... We report on cavity-dumping of a semiconductor disk laser as a method to generate energetic ..." | ||
| № 2 (2013) | ПОВЫШЕНИЕ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ДИСТАНЦИИ В ДАЛЬНОМЕРНОМ КАНАЛЕ ПРИБОРА НАБЛЮДЕНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ЛАЗЕРА | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. В. Фуфаев, Р. В. Фёдорцев | ||
| "... A method for improving the accuracy rangefinder with a semiconductor laser operating in the mode ..." | ||
| Том 9, № 3 (2018) | Измерительные преобразователи систем оптической диагностики с многофункциональными одноэлементными фотоприемниками | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. И. Свистун, А. К. Тявловский, К. Л. Тявловский, Л. И. Шадурская | ||
| "... on semiconductors with low-concentration deep dopants that form multiple energy levels for different charge states ..." | ||
| Том 6, № 2 (2015) | ОЦЕНКА ТЕПЛОВЫХ ПАРАМЕТРОВ МОЩНЫХ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ МЕТОДОМ ТЕПЛОВОЙ РЕЛАКСАЦИОННОЙ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. С. Нисс, О. С. Васьков, А. С. Турцевич, А. Ф. Керенцев, В. К. Кононенко | ||
| "... of the equipment. This leads to the need for a detailed thermal analysis of semiconductor devices. The goal ..." | ||
| Том 14, № 1 (2023) | Интеллектуальный сенсор для измерительных систем, работающих по схеме синусоидальное возбуждение – отклик | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. А. Микитевич, А. И. Свистун, А. В. Самарина, К. В. Пантелеев, А. Л. Жарин | ||
| "... probe based on a vibrating capacitor, and the surface photo voltage probe for the case of semiconductors. ..." | ||
| 1 - 25 из 66 результатов | 1 2 3 > >> | |
Советы по поиску:
- Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
- Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
- По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
- Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
- Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
- Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
- Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
- Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)
