Preview
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Бринкевич Д.И., Гринюк Е.В., Просолович В.С., Бринкевич С.Д., Колос В.В., Зубова О.А. Отражательно-абсорбционная ИК Фурье-спектроскопия фоторезистивных плёнок на кремнии. Приборы и методы измерений. 2025;16(1):69-76. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2025-16-1-69-76

For citation:


Brinkevich D.I., Grinyuk E.V., Prosolovich V.S., Brinkevich S.D., Kolos V.V., Zubova O.A. Reflective Absorption IR Fourier-Spectroscopy of Photoresistive Films on Silicon. Devices and Methods of Measurements. 2025;16(1):69-76. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/2220-9506-2025-16-1-69-76



Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2220-9506 (Print)
ISSN 2414-0473 (Online)