Preview

Приборы и методы измерений

Расширенный поиск

Интеллектуальный сенсор для измерительных систем, работающих по схеме синусоидальное возбуждение – отклик

https://doi.org/10.21122/2220-9506-2023-14-1-18-26

Аннотация

Измерительные приборы и системы, содержащие датчики, требующие синусоидальное возбуждающее воздействие, широко используются в информационно-измерительной технике как в производственных условиях, так и в исследовательской практике. В качестве примеров можно привести различные типы металлоискателей, вихретоковые дефектоскопы, анализаторы жидких сред, электрометры с динамическим конденсатором и др. Целью работы являлась разработка оптимальной архитектуры и алгоритмов работы интеллектуальных сенсоров, предназначенных для использования в измерительных системах, работающих по схеме синусоидальное возбуждение – отклик.

В настоящей работе описан предложенный авторами подход к построению интеллектуальных сенсоров на базе современных микроконтроллеров, отличительной особенностью которого является непрерывная генерация синусоидальных воздействий и считывание откликов в фоновом режиме, а также выставление флагов готовности для обработки данных в основном процессе микропроцессора, что обеспечивает бесперебойное выполнение фоновых процессов, главным из которых является генерация синусоидального возбуждающего воздействия.

Данный подход опробован при разработке систем картирования поверхностей зарядочувствительными методами, такими как зонд Кельвина, на основе динамического конденсатора, и зонд поверхностной фото-ЭДС для случая полупроводников.

Об авторах

В. А. Микитевич
Белорусский национальный технический университет
Беларусь

пр-т Независимости, 65, г. Минск 220013



А. И. Свистун
Белорусский национальный технический университет
Беларусь

пр-т Независимости, 65, г. Минск 220013



А. В. Самарина
Белорусский национальный технический университет
Беларусь

пр-т Независимости, 65, г. Минск 220013



К. В. Пантелеев
Белорусский национальный технический университет
Беларусь

пр-т Независимости, 65, г. Минск 220013



А. Л. Жарин
Белорусский национальный технический университет
Беларусь

Адрес для переписки:
Жарин А.Л. –
Белорусский национальный технический университет,
 пр-т Независимости, 65, г. Минск 220013, Беларусь
e-mail: anatoly.zharin@gmail.com



Список литературы

1. Войтович И.Д. Интеллектуальные сенсоры / И.Д. Войтович, В.М. Корсунский // ИНТУИТ. – 2016. – 1164 с.

2. Ратхор Т. Цифровые измерения. АЦП/ЦАП. / Т. Ратхор // Техносфера. – 2006. – 392 с.

3. Иванов Р. Семейство микроконтроллеров stm32l4. DSP c батарейным питанием / Р. Иванов // Вестник Электроники. – 2015. – № 4. – С. 10–17.

4. RM0351. Reference manual. STM32L4x5 and STM32L4x6 advanced ARM®-based 32-bit MCUs [Электронный ресурс]. – Режим доступа: https://www.st.com/en/microcontrollers-microprocessors/stm32l4-series.html (дата доступа: 04.03.2023).

5. Руководство по использованию обычных таймеров STM32 [Электронный ресурс]. – Режим доступа: http://microsin.net/programming/arm/an4776-general-purpose-timer-cookbook.html (дата доступа: 04.03.2023).

6. Знакомство с цифровым интерфейсом сигмадельта-модуляторов микроконтроллеров STM32. [Электронный ресурс]. – Режим доступа: https://www.compel.ru/lib/136833 (дата доступа: 04.03.2023).

7. Пантелеев К.В. Цифровой измеритель контактной разности потенциалов / К.В. Пантелеев [и др.] // Приборы и методы измерений. – 2016. – Т. 7, № 2. – С. 136–144. DOI: 10.21122/2220-9506-2016-7-2-136-144

8. Zharin A. Determination the lifetime of minority charge carriers and iron impurity concentration in semiconductor structures with submicron layers / A. Zharin,

9. K. Pantsialeyeu, A. Svistun, K. Tyavlovsky // Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering, 2020, vol. 2, iss. 4/3, pp. 17–21.

10. Tyavlovsky A. Scanning photo stimulated electrometry for testing the uniformity of spatial distribution of semiconductor wafers parameters / A. Tyavlovsky, A. Zharin, V. Mikitsevich, R. Vorobey // Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering, 2020, vol. 2, iss. 4/11, pp. 47–51.

11. Pantsialeyeu K. Semiconductor wafers testing based on electron work function of surface / K. Pantsialeyeu, A. Zharin, V. Mikitsevich, O. Gusev // Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering, 2020, vol. 2, iss. 5/2, pp. 11–14.


Рецензия

Для цитирования:


Микитевич В.А., Свистун А.И., Самарина А.В., Пантелеев К.В., Жарин А.Л. Интеллектуальный сенсор для измерительных систем, работающих по схеме синусоидальное возбуждение – отклик. Приборы и методы измерений. 2023;14(1):18-26. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2023-14-1-18-26

For citation:


Mikitsevich U.A., Svistun A.I., Samarina A.V., Pantsialeyeu K.U., Zharin A.L. Intelligent Sensor for Measurement Systems with Sinusoidal Excitation Response. Devices and Methods of Measurements. 2023;14(1):18-26. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/2220-9506-2023-14-1-18-26

Просмотров: 331


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2220-9506 (Print)
ISSN 2414-0473 (Online)