Preview

Приборы и методы измерений

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Нисс В.С., Васьков О.С., Турцевич А.С., Керенцев А.Ф., Кононенко В.К. ОЦЕНКА ТЕПЛОВЫХ ПАРАМЕТРОВ МОЩНЫХ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ МЕТОДОМ ТЕПЛОВОЙ РЕЛАКСАЦИОННОЙ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ. Приборы и методы измерений. 2015;6(2):249-256.

For citation:


Niss V.S., Vaskou A.S., Turtsevich A.S., Kerentsev A.F., Kononenko V.K. ESTIMATION OF THERMAL PARAMETERS OF POWER BIPOLAR TRANSISTORS BY THE METHOD OF THERMAL RELAXATION DIFFERENTIAL SPECTROMETRY. Devices and Methods of Measurements. 2015;6(2):249-256. (In Russ.)

Просмотров PDF (Rus): 492


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2220-9506 (Print)
ISSN 2414-0473 (Online)