Для цитирования:

Нисс В.С., Васьков О.С., Турцевич А.С., Керенцев А.Ф., Кононенко В.К. ОЦЕНКА ТЕПЛОВЫХ ПАРАМЕТРОВ МОЩНЫХ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ МЕТОДОМ ТЕПЛОВОЙ РЕЛАКСАЦИОННОЙ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ. Приборы и методы измерений. 2015;6(2):249-256.

For citation:

Niss V.S., Vaskou A.S., Turtsevich A.S., Kerentsev A.F., Kononenko V.K. ESTIMATION OF THERMAL PARAMETERS OF POWER BIPOLAR TRANSISTORS BY THE METHOD OF THERMAL RELAXATION DIFFERENTIAL SPECTROMETRY. Devices and Methods of Measurements. 2015;6(2):249-256. (In Russ.)