Сортировать по:
| Выпуск | Название | |
| № 1 (2012) | МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ДИСТАНЦИОННОЙ ЗАВИСИМОСТИ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТИ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДА КЕЛЬВИНА | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. К. Тявловский | ||
| "... Предложена математическая модель формирования выходного сигнала сканирующего зонда Кельвина с ..." | ||
| № 1 (2013) | МИКРОЗОНДЫ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СИЛЫ АДГЕЗИИ И УДЕЛЬНОЙ ПОВЕРХНОСТНОЙ ЭНЕРГИИ МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Т. А. Кузнецова, Н. В. Чижик, Т. И. Ширяева | ||
| "... Results of usage of atomic force microscopy method operated in force spectroscopy mode ..." | ||
| № 1 (2010) | МЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ В МИКРО- И НАНОМЕХАНИКЕ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| С. А. Чижик, С. В. Сыроежкин | ||
| "... Methods of materials local physics and mechanics properties estimation on the nanoscale ..." | ||
| Том 8, № 1 (2017) | АНАЛИЗ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ ИСХОДНЫХ ПОДЛОЖЕК АЛЮМИНИЯ И ЕГО СПЛАВОВ МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДА КЕЛЬВИНА | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. К. Тявловский, А. Л. Жарин, О. К. Гусев, Р. И. Воробей, Н. И. Мухуров, Г. В. Шаронов, К. В. Пантелеев | ||
| "... methods for nondestructive testing and analysis of precision metal surfaces’ defects after different ..." | ||
| Том 13, № 4 (2022) | Зарядочувствительный метод исследования деформационных процессов | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| К. B. Пантелеев, В. А. Микитевич, А. И. Свистун, Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин | ||
| "... of the material under the action of mechanical stresses. The aim of the work was to develop methods for studying ..." | ||
| Том 8, № 4 (2017) | АНАЛИЗ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ И ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ НАНОКОМПОЗИТНЫХ ПОЛИМЕРОВ МОДИФИЦИРОВАННЫМ ЗОНДОМ КЕЛЬВИНА | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| К. В. Пантелеев, А. В. Кравцевич, И. А. Ровба, В. И. Лысенко, Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин | ||
| "... various modifications of a scanning Kelvin probe. These methods allow mapping the spatial distribution ..." | ||
| Том 9, № 3 (2018) | Применение метода дифракции обратно рассеянных электронов в исследованиях микроструктуры при определении причин разрушения металлических конструкций | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Л. B. Маркова, В. В. Коледа, Н. С. Колодинская | ||
| "... The application of the diffraction method for backscattered electrons allows us to take a fresh ..." | ||
| Том 14, № 3 (2023) | Применение преобразования Хафа для контроля дисперсности накладывающихся частиц и их агломератов | Аннотация похожие документы |
| П. В. Гуляев | ||
| "... for analog methods. ..." | ||
| Том 13, № 1 (2022) | Способы повышения точности определения вязкости разрушения твёрдых хрупких материалов при индентировании | Аннотация похожие документы |
| В. А. Лапицкая, Т. А. Кузнецова, С. А. Чижик, Б. Вархолински | ||
| "... Method for determining of the fracture toughness of brittle materials by indentation is described ..." | ||
| Том 16, № 1 (2025) | Выявление скрытых дефектов алюминиевых подложек для сенсорных устройств после термомеханической обработки с помощью сканирующего зонда Кельвина | Аннотация похожие документы |
| А. Л. Жарин, И. В. Гасенкова, А. К. Тявловский, Н. И. Мухуров, С. И. Спицкий | ||
| "... дефектов для оценки качества данной обработки методом сканирующего зонда Кельвина. Показано; что данный ..." | ||
| № 2 (2014) | РЕЖИМ САМОКАЛИБРОВКИ ЗОНДА КЕЛЬВИНА ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин, А. Н. Петлицкий, В. А. Пилипенко, А. С. Турцевич, А. К. Тявловский | ||
| "... with a probe charge-sensitive methods is achieved by realization of Kelvin probe self-calibration mode using ..." | ||
| Том 8, № 4 (2017) | ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ГРАНИЦЫ РАЗДЕЛА КРЕМНИЙ-ДВУОКИСЬ КРЕМНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ МЕТОДОВ ЗОНДОВОЙ ЭЛЕКТРОМЕТРИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. А. Пилипенко, В. А. Солодуха, В. А. Филипеня, Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин, К. В. Пантелеев, А. И. Свистун, А. К. Тявловский, К. Л. Тявловский | ||
| "... of probe electrometry methods, and particularly scanning Kelvin probe method, in the interoperational ..." | ||
| № 1 (2014) | ИССЛЕДОВАНИЕ МАГНИТОСТРИКЦИОННЫХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ С ПОМОЩЬЮ МЕТОДА АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Д. А. Степаненко, К. А. Богданчук, В. Т. Минченя, Т. А. Кузнецова | ||
| "... деформаций материалов с помощью атомно-силового микроскопа. Приведены примеры результатов измерений для ..." | ||
| Том 7, № 2 (2016) | ЦИФРОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ КОНТАКТНОЙ РАЗНОСТИ ПОТЕНЦИАЛОВ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| К. В. Пантелеев, А. И. Свистун, А. К. Тявловский, А. Л. Жарин | ||
| "... or determination of the desired spectral line of the signal after fast Fourier transformation. Both methods permit ..." | ||
| № 2 (2014) | МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ РАБОТЫ ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА ДЛЯ КОНТРОЛЯ СОСТОЯНИЯ ПОВЕРХНОСТЕЙ В ПРОЦЕССЕ ТРЕНИЯ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| К. В. Пантелеев, А. И. Свистун, А. Л. Жарин | ||
| "... трибологических исследований с применением зонда Кельвина. Показано, что исследование работы выхода электрона ..." | ||
| Том 15, № 1 (2024) | Определение трещиностойкости покровного и предметного стекла методом индентирования с визуализацией методом атомно-силовой микроскопии | Аннотация похожие документы |
| В. А. Лапицкая, Т. А. Кузнецова, С. А. Чижик | ||
| "... (2 mm thick) using an improved technique through the use of the probe methods, which makes ..." | ||
| Том 14, № 4 (2023) | Влияние температуры от 20 до 100 °С на удельную поверхностную энергию и вязкость разрушения пластин кремния | Аннотация похожие документы |
| В. А. Лапицкая, Т. А. Кузнецова, С. А. Чижик | ||
| "... энергия γ после воздействия температуры определялась методом атомно-силовой микроскопии (АСМ). Вязкость ..." | ||
| Том 15, № 4 (2024) | Контроль микрорельефа поверхности кристаллов интегральных схем, дефектности гетерои субмикроструктур методом атомно-силовой микроскопии | Аннотация похожие документы |
| В. А. Лапицкая, С. А. Чижик, Е. В. Луценко, Я. А. Соловьев, А. А. Насевич, К. С. Люцко, Т. В. Петлицкая, В. Б. Макаревич, Ю. Гуанбин | ||
| "... using atomic force microscopy (including conductive or electric force method, which allow one to study ..." | ||
| Том 6, № 1 (2015) | ДИАГНОСТИКА ЛОКАЛЬНЫХ ИЗМЕНЕНИЙ ПЛАСТИЧЕСКОЙ ДЕФОРМАЦИИ ПО РАБОТЕ ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| К. В. Пантелеев, А. И. Свистун, А. Л. Жарин | ||
| "... technique, and experimental demonstration of the possibility of these methods application for the stress ..." | ||
| Том 14, № 1 (2023) | Расчёт параметров призменного дефлектора лазерного сканера | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| И. Е. Гусаров, А. И. Калугин, М. Ю. Альес, Е. А. Антонов | ||
| "... coefficient is considered. A method for calculating of a prism deflector characteristics based on external ..." | ||
| Том 10, № 3 (2019) | Цифровизация измерений спектров в базисе Фурье – тенденции развития и проблемы | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| О. B. Пономарева, А. В. Пономарев, Н. В. Смирнова | ||
| "... (computerization) of both direct and indirect measurement methods is taking place. The direct consequence ..." | ||
| Том 14, № 2 (2023) | Измерение электрического потенциала поверхности с использованием статического зонда | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин, В. А. Микитевич, К. В. Пантелеев, А. В. Самарина, А. И. Свистун, А. К. Тявловский, К. Л. Тявловский | ||
| "... Методы контроля изменений электрического потенциала поверхности широко используются в операциях ..." | ||
| Том 14, № 3 (2023) | Универсальный цифровой зондовый электрометр для контроля полупроводниковых пластин | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. Л. Жарин, В. А. Микитевич, А. И. Свистун, К. В. Пантелеев | ||
| "... Non-contact electrical methods are widely used for research and control of semiconductor wafers ..." | ||
| № 1 (2013) | КОМПЛЕКС ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ СУБМИКРОННОЙ ТОПОЛОГИИ КРЕМНИЕВЫХ ПЛАСТИН ПРИ ПРОИЗВОДСТВЕ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| С. А. Чижик, С. П. Басалаев, В. А. Пилипенко, А. Л. Худолей, Т. А. Кузнецова, В. В. Чикунов, А. А. Суслов | ||
| "... stability for elementary bus line are shown. Methods of optical and atomic force microcopies are combined ..." | ||
| Том 6, № 1 (2015) | ОПРЕДЕЛЕНИЕ ГРАНУЛОМЕТРИЧЕСКОГО СОСТАВА ПОРОШКОВ ПЫЛЕУГОЛЬНОГО ТОПЛИВА АВТОМАТИЗИРОВАННОЙ СИСТЕМОЙ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. С. Черненко, С. М. Контуш, А. С. Зинченко, В. В. Калинчак, В. В. Калугин | ||
| "... The method of granulometric composition determination of dry powders by a shadow method ..." | ||
| 1 - 25 из 345 результатов | 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 > >> | |
Советы по поиску:
- Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
- Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
- По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
- Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
- Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
- Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
- Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
- Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)
