МЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ В МИКРО- И НАНОМЕХАНИКЕ
Аннотация
Об авторах
С. А. ЧижикБеларусь
С. В. Сыроежкин
Беларусь
Список литературы
1. Елецкий, А. В. Механические свойства углеродных наноструктур и материалов на их основе / А. В. Елецкий // Успехи физических наук. 2007. – Т. 117. №3. – С. 233 – 274.
2. Bhushan, B. Applied Scanning Probe Methods / B. Bhushan, H. Fuchs, S. Hosaka // Springe, 2002. – 475 p.
3. Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В. Л. Миронов; Институт физики микроструктур РАН. – Нижний Новгород, 2004. – 110 с.
4. Суслов, А. А. Сканирующие зондовые микроскопы / А. А. Суслов, С. А.Чижик // Материалы, технологии, инструменты. – 1997. – №3 – С. 78–89.
5. Чижик, С. А. Комплексная характеризация материалов методом сканирующей зондовой микроскопии / С. А. Чижик // Теплои массоперенос-2003 Минск : Институт теплои массообмена им. А.В. Лыкова НАН Беларуси. – 2003. – С. 226 – 232.
6. Binnig, G. Scanning tunneling microscopy / G. Binnig, H. Rohrer // Helvetica Physica Acta. – 1982. №55 – Р. 726.
7. Binnig, G. Atomic force microscopy / G. Binnig, C. F. Quate, Ch. Gerber // Phys. Rev. Lett. – 1986. №56 (9). – Р. 930.
8. Burnham, N., Colton, R. J. Measuring the nanomechanical properties and surface forces of materials using an atomic force microscope / N. Burnham, R. J. Colton // J.Vac. Sci. Technol. – 1989. – A 7. – Р. 2906 – 13.
9. Chizhik, S. A. Micromechanical properties of elastic polymeric materials as probed by scanning force microscopy / S. A. Chizhik [ets.] // Langmuir. – 1998. – Vol. 14 – № 9. – P. 3012 – 3015.
10. Ahn, H.S. Application of phase contrast imaging atomic force microscopy to tribofilms on DLC coatings / H. S. Ahn // Wear. – 2001. – №249. – Р. 617–625.
Рецензия
Для цитирования:
Чижик С.А., Сыроежкин С.В. МЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ В МИКРО- И НАНОМЕХАНИКЕ. Приборы и методы измерений. 2010;(1):85-94.
For citation:
Chizhik S.A., Siroezhlin S.V. SCANNING PROBE TECHNIQUES IN MICRO- AND NANOMECHANICS. Devices and Methods of Measurements. 2010;(1):85-94. (In Russ.)