МЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ В МИКРО- И НАНОМЕХАНИКЕ
Аннотация
В работе представлены методы оценки локальных физико-механических свойств материалов в наномасштабе, реализованных на базе сканирующего зондового микроскопа: картографические поверхности с помощью изображений контраста; статическая и динамическая силовая спектроскопия, процедуры наноизнашивания, осциллирующая микротрибология.
Об авторах
С. А. Чижик
Белорусский национальный технический университет
Беларусь
Беларусь
С. В. Сыроежкин
Институт теплои массообмена им. А.В. Лыкова НАН Беларуси
Беларусь
Беларусь
Список литературы
1. Елецкий, А. В. Механические свойства углеродных наноструктур и материалов на их основе / А. В. Елецкий // Успехи физических наук. 2007. – Т. 117. №3. – С. 233 – 274.
2. Bhushan, B. Applied Scanning Probe Methods / B. Bhushan, H. Fuchs, S. Hosaka // Springe, 2002. – 475 p.
3. Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В. Л. Миронов; Институт физики микроструктур РАН. – Нижний Новгород, 2004. – 110 с.
4. Суслов, А. А. Сканирующие зондовые микроскопы / А. А. Суслов, С. А.Чижик // Материалы, технологии, инструменты. – 1997. – №3 – С. 78–89.
5. Чижик, С. А. Комплексная характеризация материалов методом сканирующей зондовой микроскопии / С. А. Чижик // Теплои массоперенос-2003 Минск : Институт теплои массообмена им. А.В. Лыкова НАН Беларуси. – 2003. – С. 226 – 232.
6. Binnig, G. Scanning tunneling microscopy / G. Binnig, H. Rohrer // Helvetica Physica Acta. – 1982. №55 – Р. 726.
7. Binnig, G. Atomic force microscopy / G. Binnig, C. F. Quate, Ch. Gerber // Phys. Rev. Lett. – 1986. №56 (9). – Р. 930.
8. Burnham, N., Colton, R. J. Measuring the nanomechanical properties and surface forces of materials using an atomic force microscope / N. Burnham, R. J. Colton // J.Vac. Sci. Technol. – 1989. – A 7. – Р. 2906 – 13.
9. Chizhik, S. A. Micromechanical properties of elastic polymeric materials as probed by scanning force microscopy / S. A. Chizhik [ets.] // Langmuir. – 1998. – Vol. 14 – № 9. – P. 3012 – 3015.
10. Ahn, H.S. Application of phase contrast imaging atomic force microscopy to tribofilms on DLC coatings / H. S. Ahn // Wear. – 2001. – №249. – Р. 617–625.
Рецензия
Для цитирования:
Чижик С.А., Сыроежкин С.В. МЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ В МИКРО- И НАНОМЕХАНИКЕ. Приборы и методы измерений. 2010;(1):85-94.
For citation:
Chizhik S.A., Siroezhlin S.V. SCANNING PROBE TECHNIQUES IN MICRO- AND NANOMECHANICS. Devices and Methods of Measurements. 2010;(1):85-94. (In Russ.)
Просмотров:
1845
Послать статью по эл. почте 