ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ГРАНИЦЫ РАЗДЕЛА КРЕМНИЙ-ДВУОКИСЬ КРЕМНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ МЕТОДОВ ЗОНДОВОЙ ЭЛЕКТРОМЕТРИИ
https://doi.org/10.21122/2220-9506-2017-8-4-24-31
- Р Р‡.МессенРТвЂВВВВВВВВжер
- РћРТвЂВВВВВВВВнокласснРСвЂВВВВВВВВРєРСвЂВВВВВВВВ
- LiveJournal
- Telegram
- ВКонтакте
- РЎРєРѕРїРСвЂВВВВВВВВровать ссылку
Полный текст:
Аннотация
Анализ микронеоднородностей в системе кремний-двуокись кремния становится наиболее актуальным в связи с переходом микроэлектронной промышленности к субмикронным проектным нормам и уменьшением толщины подзатворного диэлектрика. Целью исследования являлось развитие методов неразрушающего контроля полупроводниковых пластин на основе определения электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния и их пространственного распределения по поверхности пластины бесконтактными методами зондовой электрометрии.
Характеризация границы раздела кремний-двуокись кремния осуществлялась методами анализа вольт-фарадных характеристик и методом сканирующего зонда Кельвина. Исследования выполнялись на материале пластин кремния КЭФ 4,5 и КДБ 12 ориентации <100> диаметром 100 мм.
Данные исследования показали, что после проведения быстрой термической обработки наблюдается равномерное распределение поверхностного потенциала по площади пластины. При этом имеет место значительное повышение электрического поверхностного потенциала на границе раздела кремний-двуокись кремния. Повышение регистрируемых значений поверхностного потенциала коррелирует с уменьшением плотности заряда на границе раздела кремний-двуокись кремния. Также изменение поверхностного потенциала по площади пластины после предварительной быстрой термообработки позволяет говорить об изменении структуры поверхностного слоя в полупроводниковой структуре.
Результаты характеризации с использованием методов зондовой электрометрии качественно отражают изменение плотности заряда на границе раздела кремний-двуокись кремния в процессе технологической обработки полупроводниковых пластин. Неоднородности распределения поверхностного потенциала наглядно отражают неоднородности распределения толщины нарушенного в процессе окисления слоя по поверхности пластины и позволяют выявить места локализации дефектов, связанных с нарушением структуры полупроводника у границы раздела кремний-двуокись кремния.
Об авторах
В. А. ПилипенкоБеларусь
ул. Казинца, 121А, г. Минск 220108
В. А. Солодуха
Беларусь
ул. Казинца, 121А, г. Минск 220108
В. А. Филипеня
Беларусь
ул. Казинца, 121А, г. Минск 220108
Р. И. Воробей
Беларусь
пр-т Независимости, 65, г. Минск 220013
О. К. Гусев
Беларусь
пр-т Независимости, 65, г. Минск 220013
А. Л. Жарин
Беларусь
ул. Казинца, 121А, г. Минск 220108
К. В. Пантелеев
Беларусь
пр-т Независимости, 65, г. Минск 220013
А. И. Свистун
Беларусь
пр-т Независимости, 65, г. Минск 220013
А. К. Тявловский
Беларусь
Адрес для переписки: Тявловский А.К. – Белорусский национальный технический университет, пр-т Независимости, 65, г. Минск 220013, e-mail: tyavlovsky@bntu.by
К. Л. Тявловский
Беларусь
пр-т Независимости, 65, г. Минск 220013
Список литературы
1. Schroder, D.K. Semiconductor Material and Device Characterization / D.K. Schroder // Hoboken, New Jersey: John Wiley and Sons, Inc. - 2006. - 790 p. https://doi.org/10.1002/0471749095
2. Schroder, D.K. Trendsin Lifetime Measurements /D.K. Schroder // Electrochemical Society Proceedings. - 2000. - Vol. 17. - P. 365-383.
3. Everaert, J.L. Contactless Mobility Measurements of Inversion Charge Carriers on Silicon Substrates with SiO and HfO Gate Dielectrics / J.L. Everaert [et al.] // Appl. Phys. Lett. - 2010. - Vol. 96. - P. 122906. https://doi.org/10.1063/1.3373920
4. Oborina, E.I. Noncontact interface trap determination of SiO -4H-SiC structures / E.I. Oborina, A.M. Hoff // J. Appl. Phys. - 2010. - Vol. 107. - P. 013703. https://doi.org/10.1063/1.3272081
5. Schroder, D.K. Contactless Surface Charge Semiconductor Characterization / D.K. Schroder // Materials Science and Engineering: B. - 2002. - Vol. 91-92. - P. 196 - 210. https://doi.org/10.1016/S0921-5107(01)00993-X
6. Schroder, D.K. Silicon Epitaxial Layer Recombination and Generation Lifetime Characterization / D.K. Schroder [et al.] // IEEE Transactions on Electron Devices. - 2003. - Vol. 50, no. 4. - P. 906-912. https://doi.org/10.1109/TED.2003.812488
7. Komin, V.V. Status of Non-contact Electrical Measurements / V.V. Komin, A.F. Bello, C.R. Brundle, Y.S. Uritsky // AIP Conference Proceedings. - 2003. - Vol. 683. - P. 782-795. https://doi.org/10.1063/1.1622559
8. Vorobei, R.I. Kontrol' defektov struktury kremnii-dielektrik na osnove analiza prostranstvennogo raspredeleniya potentsiala po poverkhnosti poluprovodnikovykh plastin / R.I. Vorobei [i dr.] // Pribory i metody izmerenii. - 2013. - № 2(7). - S. 67-72.
9. Pogosov, V.V. Effect of deformation on surface characteristics of finite metallic crystals / V.V. Pogosov, O.M. Shtepa // Ukr. J. Phys. - 2002. - Vol. 47, no. 11. - P. 1065-1070.
10. Nazarov, A. Application of Volta potential mapping to determine metal surface defects / A. Nazarov, D. Thierry // Electrochimica Acta. - 2007. - Vol. 52. - P. 7689-7696. https://doi.org/10.1016/j.electacta.2007.05.077
11. Neaton, J.B. Electronic properties of the Si/SiO interface from first principles / J.B. Neaton, D.A. N.W. Ashcroft // Phys. Rev. Lett. - 2000. - Vol. 85, No. 6. - P. 1298-1301.
12. Tekhnologiya SBIS : v 2 t. / pod red. S. Zi. - M. : Mir, 1984. - T. 1. - 405 s.
13. Zharkikh, Yu.S. Mechanic-electrical transformations in the Kelvin method / Yu.S. Zharkikh, S.V. Lysochenko // Applied Surface Science. - 2017. - Vol. 400. - P. 71-76. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.12.085
14. Tyavlovskii, A.K. Matematicheskoe modelirovanie distantsionnoi zavisimosti razreshayushchei sposobnosti skaniruyushchego zonda Kel'vina / A.K. Tyavlovskii // Pribory i metody izmerenii. - 2012. - № 1(4). - S. 30-36.
15. Gorban, A.P. Investigation of the fast surface state spectrum of MIS structures by differential C-V method / A.P. Gorban, V.G. Litovchenko, P.Ch. Peikow // Phys. State Sol. (a). - 1972. - Vol. 10, no. 1. - R. 289-292.
16. Gorlov, M.I. Tekhnologicheskie otbrakovochnye i diagnosticheskie ispytaniya poluprovodnikovykh izdelii / M.I. Gorlov, V.A. Emel'yanov, D.L. Anufriev. - Minsk : Bel. nauka, 2006. - 367 s.
17. Bobrova, E.A. Osobennosti vol't-faradnykh kharakteristik MOP struktur, obuslovlennye zaryadom v okisle / E.A. Bobrova, N.M. Omel'yanovskaya // FTP. - 2008. - T. 42, vyp. 11. - S. 1380-1383.
18. Aleksandrov, O.V. Model' obrazovaniya fiksirovannogo zaryada v termicheskom diokside kremniya / O.V. Aleksandrov, A.I. Dus' // FTP - 2011. - T. 45, vyp. 4. - S. 474-480.
19. Herbert, G. Origin of the fixed charge in thermally oxidized silicon / G. Herbert // J. Electrochem. Soc. - 1977. - Vol. 124, no. 2. - P. 314-317.
20. Holiney, R.Yu. Investigation of the undersurface damaged layers in silicon wafers / R.Yu. Holiney, L.A. Matveeva, E.F. Venger // Semiconductor phys., quantum electronics and optoelectronics. - 1999. - Vol. 2, no. 4. - P. 10-12.
21. Khat'ko, V.V. Struktury metall-dioksid kremniya-poluprovodnik dlya integral'nykh mikroskhem / V.V. Khat'ko. - Minsk : BNTU, 2009. - 234 s.
22. Rumak, N.V. Dielektricheskie plenki v tverdotel'noi mikroelektronike / N.V. Rumak, V.V. Khat'ko. - Minsk : Navuka i tekhnika, 1990. - 192 s
Рецензия
Для цитирования:
Пилипенко В.А., Солодуха В.А., Филипеня В.А., Воробей Р.И., Гусев О.К., Жарин А.Л., Пантелеев К.В., Свистун А.И., Тявловский А.К., Тявловский К.Л. ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ГРАНИЦЫ РАЗДЕЛА КРЕМНИЙ-ДВУОКИСЬ КРЕМНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ МЕТОДОВ ЗОНДОВОЙ ЭЛЕКТРОМЕТРИИ. Приборы и методы измерений. 2017;8(4):344-356. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2017-8-4-24-31
For citation:
Pilipenko V.А., Saladukha V.A., Filipenya V.A., Vorobey R.I., Gusev O.K., Zharin A.L., Pantsialeyeu K.V., Svistun A.I., Tyavlovsky A.K., Tyavlovsky K.L. CHARACTERIZATION OF THE ELECTROPHYSICAL PROPERTIES OF SILICON-SILICON DIOXIDE INTERFACE USING PROBE ELECTROMETRY METHODS. Devices and Methods of Measurements. 2017;8(4):344-356. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/2220-9506-2017-8-4-24-31
ISSN 2414-0473 (Online)