Preview

Приборы и методы измерений

Расширенный поиск

Поиск


Сортировать по:     
 
Выпуск Название
 
Том 7, № 1 (2016) СКЛЕРОМЕТРИЧЕСКИЙ МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ МИКРОТВЕРДОСТИ ПЛЕНОК ФОТОРЕЗИСТА НА КРЕМНИИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Д. И. Бринкевич, В. С. Просолович, Ю. Н. Янковский, С. А. Вабищевич, Н. В. Вабищевич, В. Е. Гайшун
"... applied on plates of single-crystal silicon. As an example films of positive diazoquinonenovolak ..."
 
Том 8, № 4 (2017) ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ГРАНИЦЫ РАЗДЕЛА КРЕМНИЙ-ДВУОКИСЬ КРЕМНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ МЕТОДОВ ЗОНДОВОЙ ЭЛЕКТРОМЕТРИИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. А. Пилипенко, В. А. Солодуха, В. А. Филипеня, Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин, К. В. Пантелеев, А. И. Свистун, А. К. Тявловский, К. Л. Тявловский
"... of the gate dielectric thickness raise the importance of the analysis of microinhomogeneities in the silicon ..."
 
Том 13, № 4 (2022) Высокочастотный конденсатор с рабочим веществом «изолятор нелегированный кремний изолятор» Аннотация  похожие документы
Н. А. Поклонский, И. И. Аникеев, С. А. Вырко
"... with the working substance "insulator-undoped silicon-insulator" at different applied to the capacitor direct ..."
 
№ 1 (2014) КРЕМНИЕВЫЕ ПРИБОРНЫЕ СТРУКТУРЫ С ЭФФЕКТИВНОЙ ИЗЛУЧАТЕЛЬНОЙ РЕКОМБИНАЦИЕЙ НА ДИСЛОКАЦИЯХ Мудрый А.В.1, Живулько В.Д.1, Мофиднахаи Ф.1, Ивлев Г.Д.2, Якушев М. Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. В. Мудрый, В. Д. Живулько, Ф. Мофиднахаи, Г. Д. Ивлев, М. В. Якушев, Р. В. Мартин, А. В. Двуреченский, В. А. Зиновьев, Ж. В. Смагина, П. А. Кучинская
 
№ 2 (2012) СРЕДСТВА РЕГИСТРАЦИИ ИМПУЛЬСНОГО ВИДИМОГО ИЗЛУЧЕНИЯ МАЛОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ. ЧАСТЬ 1. ОСОБЕННОСТИ И ВОЗМОЖНОСТИ МНОГОКАНАЛЬНЫХ ФОТОПРИЕМНИКОВ С ВНУТРЕННИМ УСИЛЕНИЕМ. ОБЗОР Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
О. В. Дворников, В. А. Чеховский, В. Л. Дятлов
"... . It is offered to use silicon photomultipliers for production of multi-channel optoelectronic systems ..."
 
Том 14, № 4 (2023) Влияние температуры от 20 до 100 °С на удельную поверхностную энергию и вязкость разрушения пластин кремния Аннотация  похожие документы
В. А. Лапицкая, Т. А. Кузнецова, С. А. Чижик
"... and fracture toughness of standard silicon wafers of three orientations (100), (110) and (111) was studied ..."
 
Том 15, № 4 (2024) Конвертор поляризации на основе нитрида кремния на изоляторе Аннотация  похожие документы
Д. М. Моховиков, Е. С. Барбин, Т. Г. Нестеренко, А. А. Таловская, А. С. Мырзахметов, И. В. Кулинич, П. Ф. Баранов, Д. П. Ильященко
"... a design method and fabrication technology for polarization converters based on silicon nitride ..."
 
Том 16, № 1 (2025) Отражательно-абсорбционная ИК Фурье-спектроскопия фоторезистивных плёнок на кремнии Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Д. И. Бринкевич, Е. В. Гринюк, В. С. Просолович, С. Д. Бринкевич, В. В. Колос, О. А. Зубова
"... silicon by centrifugation has been carried out. In the reflective absorption IR spectra absorption bands ..."
 
Том 14, № 1 (2023) Импеданс индуктивного типа барьерных структур Mo/n-Si, облучённых альфа-частицами Аннотация  похожие документы
Н. А. Поклонский, А. И. Ковалев, К. В. Усенко, Е. А. Ермакова, Н. И. Горбачук, С. Б. Ластовский
"... In silicon microelectronics, flat metal spirals are formed to create an integrated inductance ..."
 
№ 1 (2013) СРЕДСТВА РЕГИСТРАЦИИ ИМПУЛЬСНОГО ВИДИМОГО ИЗЛУЧЕНИЯ МАЛОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ. Часть 2. ПРЕДВАРИТЕЛЬНАЯ ОБРАБОТКА СИГНАЛОВ КРЕМНИЕВЫХ ФОТОЭЛЕКТРОННЫХ УМНОЖИТЕЛЕЙ. ОБЗОР Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
О. В. Дворников, В. А. Чеховский, В. Л. Дятлов
"... Bias circuits, output signals and readout electronics of silicon photomultipliers are considered ..."
 
№ 2 (2013) КОНТРОЛЬ ДЕФЕКТОВ СТРУКТУРЫ КРЕМНИЙ-ДИЭЛЕКТРИК НА ОСНОВЕ АНАЛИЗА ПРОСТРАНСТВЕННОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛА ПО ПОВЕРХНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин, А. Н. Петлицкий, В. А. Пилипенко, А. С. Турцевич, А. К. Тявловский, К. Л. Тявловский
"... of a silicon-insulator structure. Experiments were held using a thermally oxidized boron-doped silicon wafer ..."
 
№ 2 (2013) КОНТРОЛЬ ДЕФЕКТОВ СТРУКТУРЫ КРЕМНИЙ-ДИЭЛЕКТРИК НА ОСНОВЕ АНАЛИЗА ПРОСТРАНСТВЕННОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛА ПО ПОВЕРХНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин, А. Н. Петлицкий, В. А. Пилипенко, А. С. Турцевич, А. К. Тявловский, К. Л. Тявловский
"... of a silicon-insulator structure. Experiments were held using a thermally oxidized boron-doped silicon wafer ..."
 
Том 9, № 2 (2018) РАСЧЕТ СТАТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КРЕМНИЕВОГО ДИОДА, СОДЕРЖАЩЕГО В СИММЕТРИЧНОМ p–n-ПЕРЕХОДЕ δ-СЛОЙ ТОЧЕЧНЫХ ТРЕХЗАРЯДНЫХ ДЕФЕКТОВ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Н. А. Поклонский, А. И. Ковалев, Н. И. Горбачук, С. В. Шпаковский
"... of the study is to calculate the electric parameters of a symmetric silicon diode, in the flat p–n-junction ..."
 
Том 15, № 2 (2024) Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. А. Пилипенко, А. А. Сергейчик, Д. В. Шестовский, В. А. Солодуха
"... of silicon crystal lattice state in surface layer of 30 nm thickness before and after rapid thermal treatment ..."
 
1 - 14 из 14 результатов

Советы по поиску:

  • Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
  • Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
  • По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
  • Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
  • Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
  • Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)