Preview

Приборы и методы измерений

Расширенный поиск

Поиск


Сортировать по:     
 
Выпуск Название
 
Том 8, № 1 (2017) АНАЛИЗ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ ИСХОДНЫХ ПОДЛОЖЕК АЛЮМИНИЯ И ЕГО СПЛАВОВ МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДА КЕЛЬВИНА Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. К. Тявловский, А. Л. Жарин, О. К. Гусев, Р. И. Воробей, Н. И. Мухуров, Г. В. Шаронов, К. В. Пантелеев
"... methods for nondestructive testing and analysis of precision metal surfaces’ defects after different ..."
 
Том 10, № 1 (2019) Устройство контроля качества токопроводящих покрытий элементов ракетно-космической техники Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Б. B. Скворцов, А. С. Самсонов, С. А. Борминский, Д. М. Живоносновская
"... defects. The basic technical requirements for the device were formed and the required minimum size ..."
 
Том 16, № 1 (2025) Выявление скрытых дефектов алюминиевых подложек для сенсорных устройств после термомеханической обработки с помощью сканирующего зонда Кельвина Аннотация  похожие документы
А. Л. Жарин, И. В. Гасенкова, А. К. Тявловский, Н. И. Мухуров, С. И. Спицкий
"... . The subject of the study was the detection of residual mechanical stresses and other surface defects to assess ..."
 
№ 2 (2013) КОНТРОЛЬ ДЕФЕКТОВ СТРУКТУРЫ КРЕМНИЙ-ДИЭЛЕКТРИК НА ОСНОВЕ АНАЛИЗА ПРОСТРАНСТВЕННОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛА ПО ПОВЕРХНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин, А. Н. Петлицкий, В. А. Пилипенко, А. С. Турцевич, А. К. Тявловский, К. Л. Тявловский
"... visualization technique based on Kelvin–Ziesman technique to the non-destructive testing and defects study ..."
 
№ 2 (2013) КОНТРОЛЬ ДЕФЕКТОВ СТРУКТУРЫ КРЕМНИЙ-ДИЭЛЕКТРИК НА ОСНОВЕ АНАЛИЗА ПРОСТРАНСТВЕННОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛА ПО ПОВЕРХНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин, А. Н. Петлицкий, В. А. Пилипенко, А. С. Турцевич, А. К. Тявловский, К. Л. Тявловский
"... visualization technique based on Kelvin–Ziesman technique to the non-destructive testing and defects study ..."
 
№ 2 (2014) РЕЖИМ САМОКАЛИБРОВКИ ЗОНДА КЕЛЬВИНА ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин, А. Н. Петлицкий, В. А. Пилипенко, А. С. Турцевич, А. К. Тявловский
"... of semiconductor wafer defects. Method can be used to define defects’ physical properties including minority ..."
 
Том 6, № 2 (2015) ОЦЕНКА ТЕПЛОВЫХ ПАРАМЕТРОВ МОЩНЫХ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ МЕТОДОМ ТЕПЛОВОЙ РЕЛАКСАЦИОННОЙ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. С. Нисс, О. С. Васьков, А. С. Турцевич, А. Ф. Керенцев, В. К. Кононенко
"... resistance increases due to changes in the mechanism of heat transfer. Defects in this area in the form ..."
 
Том 9, № 2 (2018) РАСЧЕТ СТАТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КРЕМНИЕВОГО ДИОДА, СОДЕРЖАЩЕГО В СИММЕТРИЧНОМ p–n-ПЕРЕХОДЕ δ-СЛОЙ ТОЧЕЧНЫХ ТРЕХЗАРЯДНЫХ ДЕФЕКТОВ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Н. А. Поклонский, А. И. Ковалев, Н. И. Горбачук, С. В. Шпаковский
"... and/or intrinsic point defects of the crystal lattice is of fundamental and practical interest. The aim ..."
 
Том 12, № 4 (2021) Влияние геометрии и граничных условий в области сцепления материалов на рассеяние ультразвуковых волн. Ч. 2. Особенности экспериментального моделирования Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. Р. Баев, Н. В. Левкович, М. В. Асадчая, А. Л. Майоров, Г. И. Размыслович, А. Ю. Бурнос
"... of poorly detectable material bonding defects is an important production task. The aim of the work ..."
 
Том 12, № 3 (2021) Низкочастотный адмиттанс конденсатора с рабочим веществом «изолятор – частично разупорядоченный полупроводник – изолятор» Аннотация  похожие документы
Н. А. Поклонский, И. И. Аникеев, С. А. Вырко
"... defects is of practical interest in the development of radiation-resistant varactors. The capacitance ..."
 
Том 12, № 1 (2021) Схема элемента Пельтье на полупроводниках с прыжковым переносом электронов по дефектам Аннотация  похожие документы
Н. А. Поклонский, С. А. Вырко, А. И. Ковалев, И. И. Аникеев, Н. И. Горбачук
"... The study of thermoelectric properties of crystalline semiconductors with structural defects ..."
 
1 - 11 из 11 результатов

Советы по поиску:

  • Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
  • Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
  • По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
  • Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
  • Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
  • Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)