Для цитирования:

Поклонский Н.А., Сягло А.И., Шнитко В.Т., Меркулов В.А., Давиденя М.О., Ковалев А.И. ЭКСПРЕСС-МЕТОДИКА БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ НЕБОЛЬШИХ ОБРАЗЦОВ НА СВЕРХВЫСОКИХ ЧАСТОТАХ. Приборы и методы измерений. 2013;(1):64-71.

For citation:

Poklonski N.A., Siahlo A.I., Shnitko V.T., Merkulov V.A., Davidenia O.M., Kovalev A.I. FAST METHOD OF NON-CONTACT MICROWAVE MEASUREMENTS OF ELECTRICAL PARAMETERS OF COMPACT SAMPLES. Devices and Methods of Measurements. 2013;(1):64-71. (In Russ.)