Preview

Приборы и методы измерений

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Поклонский Н.А., Сягло А.И., Шнитко В.Т., Меркулов В.А., Давиденя М.О., Ковалев А.И. ЭКСПРЕСС-МЕТОДИКА БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ НЕБОЛЬШИХ ОБРАЗЦОВ НА СВЕРХВЫСОКИХ ЧАСТОТАХ. Приборы и методы измерений. 2013;(1):64-71.

For citation:


Poklonski N.A., Siahlo A.I., Shnitko V.T., Merkulov V.A., Davidenia O.M., Kovalev A.I. FAST METHOD OF NON-CONTACT MICROWAVE MEASUREMENTS OF ELECTRICAL PARAMETERS OF COMPACT SAMPLES. Devices and Methods of Measurements. 2013;(1):64-71. (In Russ.)

Просмотров PDF (Rus): 460


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2220-9506 (Print)
ISSN 2414-0473 (Online)