pimiПриборы и методы измеренийDevices and Methods of Measurements2220-95062414-0473BNTUpimi-19Research ArticleМетоды измерений, контроля, диагностикиMethods of measurements, monitoring, diagnosticsЭКСПРЕСС-МЕТОДИКА БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ НЕБОЛЬШИХ ОБРАЗЦОВ НА СВЕРХВЫСОКИХ ЧАСТОТАХFAST METHOD OF NON-CONTACT MICROWAVE MEASUREMENTS OF ELECTRICAL PARAMETERS OF COMPACT SAMPLESПоклонскийН. А.PoklonskiN. A.Poklonski@bsu.byСяглоА. И.SiahloA. I.Poklonski@bsu.byШниткоВ. Т.ShnitkoV. T.Poklonski@bsu.byМеркуловВ. А.MerkulovV. A.Poklonski@bsu.byДавиденяМ. О.DavideniaO. M.Poklonski@bsu.byКовалевА. И.KovalevA. I.Poklonski@bsu.byБелорусский государственный университетBelarus201330032015016471Copyright © Поклонский Н.А., Сягло А.И., Шнитко В.Т., Меркулов В.А., Давиденя М.О., Ковалев А.И., 20152015Поклонский Н.А., Сягло А.И., Шнитко В.Т., Меркулов В.А., Давиденя М.О., Ковалев А.И.Poklonski N.A., Siahlo A.I., Shnitko V.T., Merkulov V.A., Davidenia O.M., Kovalev A.I.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://pimi.bntu.by/jour/article/view/19

Разработана установка с  отражательным  СВЧ-резонатором  типа  H101 для  бесконтактного измерения электрических параметров небольших (диаметром ≤ 5 мм) образцов. Получено аналитическое выражение для расчета коэффициента отражения мощности СВЧ-излучения H101-резонатором с находящимся в нем образцом в зависимости от диэлектрической проницаемости и электропроводности образца. Экспериментально найдена зависимость отражения СВЧ-мощности от диаметра металлических и стеклянных шариков при их свободном падении через резонатор

The setup with a reflective microwave H101 resonator for the non-contact measurements of the electrical parameters of compact samples (the diameter less than 5 mm) is constructed. An analytical expression for calculation of the microwave power reflection coefficient by the H101 resonator with the sample being inside the resonator with respect to the dielectric permittivity and conductivity of sample is obtained. The dependence of the microwave power reflection on the diameter of the metallic and glassy globs freely falling through the resonator is experimentally found. an>

электроника СВЧтеория цепей СВЧмикроволновая техникарезонаторные системынеразрушающий контрольmicrowave electronicstheory of microwave circuitsmicrowave technicsresonator systemsnon-destroying controlReferencesБрандт, А.А. Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах / А.А. Брандт. – М. : ГИФМЛ, 1963. – 404 с.Брандт, А.А. Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах / А.А. Брандт. – М. : ГИФМЛ, 1963. – 404 с.Бесконтактные радиоволновые методы измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов / М.В. Д етинко [и др.] // Изв. вузов. Физика. – 1992. – Т. 35, № 9. – С. 45–63.Бесконтактные радиоволновые методы измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов / М.В. Д етинко [и др.] // Изв. вузов. Физика. – 1992. – Т. 35, № 9. – С. 45–63.Nag, B.R. A simple microwave method for monitoring the conductivity of semiconductor epitaxial layers / B.R. Nag, G. Ghosh, S. Dhar // Sol. St. Electron. – 1992. – Vol. 35, № 12. – P. 1823–1826.Nag, B.R. A simple microwave method for monitoring the conductivity of semiconductor epitaxial layers / B.R. Nag, G. Ghosh, S. Dhar // Sol. St. Electron. – 1992. – Vol. 35, № 12. – P. 1823–1826.Conductivity and photoconductivity in boron doped diamond films: Microwave measurements / F. Gevrey [et al.] // J. Appl. Phys. – 2001. – Vol. 90, № 8. – P. 4251–4255.Conductivity and photoconductivity in boron doped diamond films: Microwave measurements / F. Gevrey [et al.] // J. Appl. Phys. – 2001. – Vol. 90, № 8. – P. 4251–4255.Особенности СВЧ-фотопроводимости природного алмаза в спектральной области 200-250 nm / А.Г. Захаров [и др.] // Физика твердого тела. – 2000. – Т. 42, № 4. – С. 647–651.Особенности СВЧ-фотопроводимости природного алмаза в спектральной области 200-250 nm / А.Г. Захаров [и др.] // Физика твердого тела. – 2000. – Т. 42, № 4. – С. 647–651.Захаров, А.Г. Сверхвысокочастотная фотопроводимость левитирующих над природным алмазом электронов / А.Г. Захаров, Н.А. Поклонский, В.С. Вариченко // Журнал технической физики. – 2000. – Т. 70, № 10. – С. 95–101.Захаров, А.Г. Сверхвысокочастотная фотопроводимость левитирующих над природным алмазом электронов / А.Г. Захаров, Н.А. Поклонский, В.С. Вариченко // Журнал технической физики. – 2000. – Т. 70, № 10. – С. 95–101.Denisenko, A. Diamond power devices. Concepts and limits / A. Denisenko, E. Kohn // Diam. Relat. Mater. – 2005. – Vol. 14, № 3–7. – P. 491–498.Denisenko, A. Diamond power devices. Concepts and limits / A. Denisenko, E. Kohn // Diam. Relat. Mater. – 2005. – Vol. 14, № 3–7. – P. 491–498.Collins, A.T. The Fermi level in diamonds / A.T. Collins // J. Phys.: Condens. Matter. – 2002. – Vol. 14. – P. 3743–3750.Collins, A.T. The Fermi level in diamonds / A.T. Collins // J. Phys.: Condens. Matter. – 2002. – Vol. 14. – P. 3743–3750.Миляев, В.А. О резонаторном СВЧ методе исследования плазмы твердого тела / В.А. Миляев, В.А. Санина // Изв. вузов. Радиофизика. – 1980. – Т. 23, № 4. – С. 407–418.Миляев, В.А. О резонаторном СВЧ методе исследования плазмы твердого тела / В.А. Миляев, В.А. Санина // Изв. вузов. Радиофизика. – 1980. – Т. 23, № 4. – С. 407–418.Малков, Н.А. СВЧ-метод измерения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь резиновых смесей / Н.А. Малков // Вестник ТГТУ. – 2007. – Т. 13, № 2А. – С. 460–466.Малков, Н.А. СВЧ-метод измерения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь резиновых смесей / Н.А. Малков // Вестник ТГТУ. – 2007. – Т. 13, № 2А. – С. 460–466.Кириллов, Л.Г. СВЧ устройства на запредельных волноводах / Л.Г. Кириллов, Ю.И. Двоскина // Зарубежная радиоэлектроника. – 1974. – № 3. – С. 93–120.Кириллов, Л.Г. СВЧ устройства на запредельных волноводах / Л.Г. Кириллов, Ю.И. Двоскина // Зарубежная радиоэлектроника. – 1974. – № 3. – С. 93–120.Modicon Modbus Protocol Reference Guide. – MODICON, Inc., Industrial Automation Systems, 1996. – 115 p.Modicon Modbus Protocol Reference Guide. – MODICON, Inc., Industrial Automation Systems, 1996. – 115 p.Милованов, О.С. Техника сверхвысоких частот / О.С. Милованов, Н.П. Собенин. – М. : Атомиздат, 1980. – 464 с.Милованов, О.С. Техника сверхвысоких частот / О.С. Милованов, Н.П. Собенин. – М. : Атомиздат, 1980. – 464 с.Лебедев, Я.С. ЭПР и релаксация стабилизированных радикалов / Я.С. Лебедев, В.И. Муромцев. – М. : Химия, 1972. – 256 с.Лебедев, Я.С. ЭПР и релаксация стабилизированных радикалов / Я.С. Лебедев, В.И. Муромцев. – М. : Химия, 1972. – 256 с.Spencer, E.G. Note on cavity perturbation theory / E.G. Spencer, R.C. LeCraw, L.A. Ault // J. Appl. Phys. – 1957. – Vol. 28, № 1. – P. 130–132.Spencer, E.G. Note on cavity perturbation theory / E.G. Spencer, R.C. LeCraw, L.A. Ault // J. Appl. Phys. – 1957. – Vol. 28, № 1. – P. 130–132.Seidel, H. Frequency shifts in cavities with longitudinally magnetized small ferrite discs / H. Seidel, H. Boyet // Bell Syst. Tech. J. – 1958. – Vol. 37, № 3. – P. 637–655.Seidel, H. Frequency shifts in cavities with longitudinally magnetized small ferrite discs / H. Seidel, H. Boyet // Bell Syst. Tech. J. – 1958. – Vol. 37, № 3. – P. 637–655.Зоммерфельд, А. Электродинамика / А. Зоммерфельд. – М. : ИЛ, 1958. – 502 с.Зоммерфельд, А. Электродинамика / А. Зоммерфельд. – М. : ИЛ, 1958. – 502 с.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.