Preview

Приборы и методы измерений

Расширенный поиск

ЭКСПРЕСС-МЕТОДИКА БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ НЕБОЛЬШИХ ОБРАЗЦОВ НА СВЕРХВЫСОКИХ ЧАСТОТАХ

Аннотация

Разработана установка с  отражательным  СВЧ-резонатором  типа  H101 для  бесконтактного измерения электрических параметров небольших (диаметром ≤ 5 мм) образцов. Получено аналитическое выражение для расчета коэффициента отражения мощности СВЧ-излучения H101-резонатором с находящимся в нем образцом в зависимости от диэлектрической проницаемости и электропроводности образца. Экспериментально найдена зависимость отражения СВЧ-мощности от диаметра металлических и стеклянных шариков при их свободном падении через резонатор

Об авторах

Н. А. Поклонский
Белорусский государственный университет
Беларусь


А. И. Сягло
Белорусский государственный университет
Беларусь


В. Т. Шнитко
Белорусский государственный университет
Беларусь


В. А. Меркулов
Белорусский государственный университет
Беларусь


М. О. Давиденя
Белорусский государственный университет
Беларусь


А. И. Ковалев
Белорусский государственный университет
Беларусь


Список литературы

1. Брандт, А.А. Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах / А.А. Брандт. – М. : ГИФМЛ, 1963. – 404 с.

2. Бесконтактные радиоволновые методы измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов / М.В. Д етинко [и др.] // Изв. вузов. Физика. – 1992. – Т. 35, № 9. – С. 45–63.

3. Nag, B.R. A simple microwave method for monitoring the conductivity of semiconductor epitaxial layers / B.R. Nag, G. Ghosh, S. Dhar // Sol. St. Electron. – 1992. – Vol. 35, № 12. – P. 1823–1826.

4. Conductivity and photoconductivity in boron doped diamond films: Microwave measurements / F. Gevrey [et al.] // J. Appl. Phys. – 2001. – Vol. 90, № 8. – P. 4251–4255.

5. Особенности СВЧ-фотопроводимости природного алмаза в спектральной области 200-250 nm / А.Г. Захаров [и др.] // Физика твердого тела. – 2000. – Т. 42, № 4. – С. 647–651.

6. Захаров, А.Г. Сверхвысокочастотная фотопроводимость левитирующих над природным алмазом электронов / А.Г. Захаров, Н.А. Поклонский, В.С. Вариченко // Журнал технической физики. – 2000. – Т. 70, № 10. – С. 95–101.

7. Denisenko, A. Diamond power devices. Concepts and limits / A. Denisenko, E. Kohn // Diam. Relat. Mater. – 2005. – Vol. 14, № 3–7. – P. 491–498.

8. Collins, A.T. The Fermi level in diamonds / A.T. Collins // J. Phys.: Condens. Matter. – 2002. – Vol. 14. – P. 3743–3750.

9. Миляев, В.А. О резонаторном СВЧ методе исследования плазмы твердого тела / В.А. Миляев, В.А. Санина // Изв. вузов. Радиофизика. – 1980. – Т. 23, № 4. – С. 407–418.

10. Малков, Н.А. СВЧ-метод измерения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь резиновых смесей / Н.А. Малков // Вестник ТГТУ. – 2007. – Т. 13, № 2А. – С. 460–466.

11. Кириллов, Л.Г. СВЧ устройства на запредельных волноводах / Л.Г. Кириллов, Ю.И. Двоскина // Зарубежная радиоэлектроника. – 1974. – № 3. – С. 93–120.

12. Modicon Modbus Protocol Reference Guide. – MODICON, Inc., Industrial Automation Systems, 1996. – 115 p.

13. Милованов, О.С. Техника сверхвысоких частот / О.С. Милованов, Н.П. Собенин. – М. : Атомиздат, 1980. – 464 с.

14. Лебедев, Я.С. ЭПР и релаксация стабилизированных радикалов / Я.С. Лебедев, В.И. Муромцев. – М. : Химия, 1972. – 256 с.

15. Spencer, E.G. Note on cavity perturbation theory / E.G. Spencer, R.C. LeCraw, L.A. Ault // J. Appl. Phys. – 1957. – Vol. 28, № 1. – P. 130–132.

16. Seidel, H. Frequency shifts in cavities with longitudinally magnetized small ferrite discs / H. Seidel, H. Boyet // Bell Syst. Tech. J. – 1958. – Vol. 37, № 3. – P. 637–655.

17. Зоммерфельд, А. Электродинамика / А. Зоммерфельд. – М. : ИЛ, 1958. – 502 с.


Рецензия

Для цитирования:


Поклонский Н.А., Сягло А.И., Шнитко В.Т., Меркулов В.А., Давиденя М.О., Ковалев А.И. ЭКСПРЕСС-МЕТОДИКА БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ НЕБОЛЬШИХ ОБРАЗЦОВ НА СВЕРХВЫСОКИХ ЧАСТОТАХ. Приборы и методы измерений. 2013;(1):64-71.

For citation:


Poklonski N.A., Siahlo A.I., Shnitko V.T., Merkulov V.A., Davidenia O.M., Kovalev A.I. FAST METHOD OF NON-CONTACT MICROWAVE MEASUREMENTS OF ELECTRICAL PARAMETERS OF COMPACT SAMPLES. Devices and Methods of Measurements. 2013;(1):64-71. (In Russ.)

Просмотров: 797


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2220-9506 (Print)
ISSN 2414-0473 (Online)