Сортировать по:
| Выпуск | Название | |
| Том 15, № 4 (2024) | Контроль микрорельефа поверхности кристаллов интегральных схем, дефектности гетерои субмикроструктур методом атомно-силовой микроскопии | Аннотация похожие документы |
| В. А. Лапицкая, С. А. Чижик, Е. В. Луценко, Я. А. Соловьев, А. А. Насевич, К. С. Люцко, Т. В. Петлицкая, В. Б. Макаревич, Ю. Гуанбин | ||
| "... roughness is higher on the surface and outside the p-channel transistor than on the n-channel transistor ..." | ||
| Том 16, № 4 (2025) | Магнитореологическое полирование поверхностей карбида кремния до ангстремного уровня шероховатости | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. М. Холод, А. Л. Худолей, П. С. Гринчук, В. А. Лапицкая | ||
| "... -sintered two-phase Si-SiC (6H and 15R) ceramics. An angstrom-level surface roughness was achieved ..." | ||
| Том 6, № 2 (2015) | КОНТРОЛЬ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ, ОБРАБОТАННЫХ АЛМАЗНЫМ НАНОТОЧЕНИЕМ, ПО РАБОТЕ ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Г. В. Шаронов, А. Л. Жарин, Н. И. Мухуров, К. В. Пантелеев | ||
| "... technology would be capable of ensuring the roughness of non-ferrous metals and alloys machined at the level ..." | ||
| Том 16, № 1 (2025) | Выявление скрытых дефектов алюминиевых подложек для сенсорных устройств после термомеханической обработки с помощью сканирующего зонда Кельвина | Аннотация похожие документы |
| А. Л. Жарин, И. В. Гасенкова, А. К. Тявловский, Н. И. Мухуров, С. И. Спицкий | ||
| 1 - 4 из 4 результатов | ||
Советы по поиску:
- Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
- Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
- По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
- Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
- Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
- Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
- Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
- Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)
