Preview

Приборы и методы измерений

Расширенный поиск

Поиск


Сортировать по:     
 
Выпуск Название
 
Том 14, № 3 (2023) Универсальный цифровой зондовый электрометр для контроля полупроводниковых пластин Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. Л. Жарин, В. А. Микитевич, А. И. Свистун, К. В. Пантелеев
"... semiconductor wafers during production. The results of testing the developed probe electrometer in CPD, SPV ..."
 
Том 14, № 1 (2023) Интеллектуальный сенсор для измерительных систем, работающих по схеме синусоидальное возбуждение – отклик Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. А. Микитевич, А. И. Свистун, А. В. Самарина, К. В. Пантелеев, А. Л. Жарин
"... probe based on a vibrating capacitor, and the surface photo voltage probe for the case of semiconductors. ..."
 
Том 13, № 4 (2022) Зарядочувствительный метод исследования деформационных процессов Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
К. B. Пантелеев, В. А. Микитевич, А. И. Свистун, Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. Л. Жарин
"... . A scanning modification of a charge-sensitive probe is used as a measuring instrument. The results ..."
 
1 - 3 из 3 результатов

Советы по поиску:

  • Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
  • Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
  • По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
  • Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
  • Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
  • Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)