Preview

Приборы и методы измерений

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Поклонский Н.А., Вырко С.А., Ковалев А.И., Аникеев И.И., Горбачук Н.И. Схема элемента Пельтье на полупроводниках с прыжковым переносом электронов по дефектам. Приборы и методы измерений. 2021;12(1):13-22. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2021-12-1-13-22

For citation:


Poklonski N.A., Vyrko S.A., Kovalev A.I., Anikeev I.I., Gorbachuk N.I. Design of Peltier Element Based on Semiconductors with Hopping Electron Transfer via Defects. Devices and Methods of Measurements. 2021;12(1):13-22. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2021-12-1-13-22

Просмотров: 85


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2220-9506 (Print)
ISSN 2414-0473 (Online)