ИЗМЕРЕНИЕ ОСВЕЩЕННОСТИ В ДИАПАЗОНЕ ОТ 0,001 ДО 1,000 ЛК
https://doi.org/10.21122/2220-9506-2013-0-1-13-20
Аннотация
В ходе модернизации в 2008–2010 гг. Национального эталона единиц силы света и освещенности Республики Беларусь разработан и создан фотометр малых уровней освещенности. Описан метод создания шкалы малых уровней освещенности. Приведена схема фотометра и его основные характеристики.
Об авторах
В. А. ДлугуновичБеларусь
С. В. Никоненко
Беларусь
О. Б. Тарасова
Беларусь
Список литературы
1. Национальный эталон единицы силы света и освещенности / В.Е. Плюта [и др.] // Метрология и приборостроение. – 2002. – № 3 – 4. – С.15–17.
2. Ohno, Y. NlST measurement services: Photometric calibrations. / Y. Ohno // NlST Special Publication 250-37. U.S. Government Printing Office, Washington. – 1997. – 85 р.
3. Metzdorf, Y. Network and traceability of the radiometric and photometric standards at the PTB / Y. Metzdorf // Metrologia. – 1993. – Vol. 30. – P.403–408.
4. International Comparison: International comparison of the illuminance responsivity scales and units of luminous flux maintained at the HUT (Finland) and the NIST (USA) / J. Hovila [et al.] // Metrologia. – 2002. – Vol. 39. – P. 219–223.
5. Патент RU 95398U1 от 02.03.2010 на полезную модель «Установка для хранения и передачи размера единицы освещенности». Заявители – Институт физики НАН Беларуси, БелГИМ. Авторы – О.Б. Тарасова (БелГИМ), С.В. Никоненко (Институт физики).
6. Патент BY 6367 U от 30.06.2010 на полезную модель «Установка для хранения и передачи размера единицы освещенности». Заявители – БелГИМ, Институт физики НАН Беларуси. Авторы – О.Б. Тарасова (БелГИМ), С.В. Никоненко (Институт физики).
Рецензия
Для цитирования:
Длугунович В.А., Никоненко С.В., Тарасова О.Б. ИЗМЕРЕНИЕ ОСВЕЩЕННОСТИ В ДИАПАЗОНЕ ОТ 0,001 ДО 1,000 ЛК. Приборы и методы измерений. 2013;(1):121-125. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2013-0-1-13-20
For citation:
Dlugunovich V.A., Nikanenka S.A., Tarasova O.B. ILLUMINANCE MEASUREMENT IN THE RANGE FROM 0,001 TO 1,000 LX. Devices and Methods of Measurements. 2013;(1):121-125. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/2220-9506-2013-0-1-13-20