Для цитирования:

Оджаев В.Б., Петлицкий А.Н., Просолович В.С., Филипеня В.А., Шведов С.В., Черный В.В., Явид В.Ю., Янковский Ю.Н. АНАЛИЗ КАЧЕСТВА ПОДЗАТВОРНОГО ДИЭЛЕКТРИКА МОП-СТРУКТУР ПО ВОЛЬТ-ФАРАДНЫМ ХАРАКТЕРИСТИКАМ. Приборы и методы измерений. 2015;6(1):94-98.

For citation:

Odzhaev V.B., Pyatlitski A.N., Prosolovich V.S., Filipenya V.A., Shvedau S.V., Chernyi V.V., Yavid V.Yu., Yankouski Yu.N. QUALITY ANALYSIS OF THE GATE DIELECTRIC OF THE MOS-STRUCTURES BY CAPACITY-VOLTAGE CHARACTERISTICS. Devices and Methods of Measurements. 2015;6(1):94-98. (In Russ.)