КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКИХ ТАНТАЛОВЫХ КОНДЕНСАТОРОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СТРЕСС-ТЕСТА
https://doi.org/10.21122/2220-9506-2015-6-1-12-122
Аннотация
Рассматривается ускоренный способ анализа качества электролитических объемнопористых танталовых конденсаторов на основе прогноза изменения эквивалентного последовательного сопротивления при проведении СТРЕСС-ТЕСТА.
Об авторах
П. Л. Кузнецов
Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова
Россия
Россия
В. В. Муравьев
Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова
Россия
Россия
Список литературы
1. Fritzler, T. Scintillation Conditioning of Tantalum Capacitors With Manganese Dioxide Cathodes, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability (Impact Factor: 1.54) / T. Fritzler, M.H. Azarian, M.G. Pecht. – 01/2014; 14(2):630-638. DOI: 10.1109/ TDMR.2014.2314731.
2. Franco, F. Di. Characterization of the Solid State Properties of Anodic Oxides on Magnetron Sputtered Ta, Nb and Ta-Nb Alloys / F. Di Franco [et al.] // Journal of The Electrochemical Society. – 2012.– Vol. 159(1). – P. 33–39.
3. Кузнецова, В.А. Исследование надежности танталовых оксидно-полупроводниковых чипконденсаторов на основе экспериментальных данных / В.А. Кузнецова, П.Л. Кузнецов, В.В. Муравьев // Вестник Ижевского государственного технического университета. – 2013. – № 3. – С. 88–91.
4. Кузнецов, П.Л. Исследование влияния характеристик технологического процесса изготовления на изменения эксплуатационных характеристик танталовых объемно-пористых конденсаторов во времени / П.Л. Кузнецов, В.А. Кузнецова, Г.В. Ломаев // Вестник Ижевского государственного технического университета. – 2014. – № 1. – С. 11–15.
5. Кузнецова, В.А. Исследование влияния на эксплуатационные характеристики качества материалов танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов / В.А. Кузнецова [и др.] // Интеллектуальные системы в производстве. – 2013. – № 2. – С. 140–143.
6. Беляева, Е.А. Исследование влияния срока сохраняемости на эксплуатационные характеристики и состояние объемно-пористых танталовых конденсаторов / Е.А. Беляева, В.А. Кузнецова, В.В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – № 1. – С. 96–99.
7. Беляева, Е.А. Влияние переменной синусоидальной составляющей пульсирующего напряжения при оксидировании объемно-пористых анодов танталовых конденсаторов на электрические параметры / Е.А. Беляева, В.В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – № 2. – С. 96–102.
8. Кузнецова, В.А. Влияние качества корпуса оксидно-полупроводниковых танталовых чипконденсаторов на эксплуатационные параметры / Е.А. Беляева, В.В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – № 2. – С. 112–115.
9. Кузнецова, В.А. Влияние конструктивных характеристик анода на эксплуатационные параметры оксидно-полупроводниковых танталовых чип-конденсаторов / Е.А. Беляева, В.В. Муравьев // Вестник Ижевского государственного технического университета. – 2014. – № 4. – С. 105–107.
10. Радюшкин, О. Методы оценки срока эксплуатации электролитических конденсаторов / О. Радюшкин. – Силовая электроника. – 2010. – № 5. – С. 19–22.
Рецензия
Для цитирования:
Кузнецов П.Л., Муравьев В.В. КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКИХ ТАНТАЛОВЫХ КОНДЕНСАТОРОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СТРЕСС-ТЕСТА. Приборы и методы измерений. 2015;6(1):76-80. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2015-6-1-12-122
For citation:
Kuznetsov P.L., Muraviev V.V. THE QUALITY CONTROL OF ELECTROLYTIC TANTALUM CAPACITORS BY USING THE STRESS TEST. Devices and Methods of Measurements. 2015;6(1):76-80. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/2220-9506-2015-6-1-12-122
Просмотров:
849
Послать статью по эл. почте 