КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКИХ ТАНТАЛОВЫХ КОНДЕНСАТОРОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СТРЕСС-ТЕСТА
https://doi.org/10.21122/2220-9506-2015-6-1-12-122
- Р Р‡.МессенРТвЂВВВВВВВВжер
- РћРТвЂВВВВВВВВнокласснРСвЂВВВВВВВВРєРСвЂВВВВВВВВ
- LiveJournal
- Telegram
- ВКонтакте
- РЎРєРѕРїРСвЂВВВВВВВВровать ссылку
Полный текст:
Аннотация
Рассматривается ускоренный способ анализа качества электролитических объемнопористых танталовых конденсаторов на основе прогноза изменения эквивалентного последовательного сопротивления при проведении СТРЕСС-ТЕСТА.
Об авторах
П. Л. КузнецовРоссия
В. В. Муравьев
Россия
Список литературы
1. Fritzler, T. Scintillation Conditioning of Tantalum Capacitors With Manganese Dioxide Cathodes, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability (Impact Factor: 1.54) / T. Fritzler, M.H. Azarian, M.G. Pecht. - 01/2014; 14(2):630-638. https://doi.org/10.1109/ TDMR.2014.2314731.
2. Franco, F. Di. Characterization of the Solid State Properties of Anodic Oxides on Magnetron Sputtered Ta, Nb and Ta-Nb Alloys / F. Di Franco [et al.] // Journal of The Electrochemical Society. - 2012.- Vol. 159(1). - P. 33-39.
3. Kuznetsova, V.A. Issledovanie nadezhnosti tantalovykh oksidno-poluprovodnikovykh chipkondensatorov na osnove eksperimental'nykh dannykh / V.A. Kuznetsova, P.L. Kuznetsov, V.V. Murav'ev // Vestnik Izhevskogo gosudarstvennogo tekhnicheskogo universiteta. - 2013. - № 3. - S. 88-91.
4. Kuznetsov, P.L. Issledovanie vliyaniya kharakteristik tekhnologicheskogo protsessa izgotovleniya na izmeneniya ekspluatatsionnykh kharakteristik tantalovykh ob"emno-poristykh kondensatorov vo vremeni / P.L. Kuznetsov, V.A. Kuznetsova, G.V. Lomaev // Vestnik Izhevskogo gosudarstvennogo tekhnicheskogo universiteta. - 2014. - № 1. - S. 11-15.
5. Kuznetsova, V.A. Issledovanie vliyaniya na ekspluatatsionnye kharakteristiki kachestva materialov tantalovykh oksidno-poluprovodnikovykh chip-kondensatorov / V.A. Kuznetsova [i dr.] // Intellektual'nye sistemy v proizvodstve. - 2013. - № 2. - S. 140-143.
6. Belyaeva, E.A. Issledovanie vliyaniya sroka sokhranyaemosti na ekspluatatsionnye kharakteristiki i sostoyanie ob"emno-poristykh tantalovykh kondensatorov / E.A. Belyaeva, V.A. Kuznetsova, V.V. Murav'ev // Intellektual'nye sistemy v proizvodstve. - 2014. - № 1. - S. 96-99.
7. Belyaeva, E.A. Vliyanie peremennoi sinusoidal'noi sostavlyayushchei pul'siruyushchego napryazheniya pri oksidirovanii ob"emno-poristykh anodov tantalovykh kondensatorov na elektricheskie parametry / E.A. Belyaeva, V.V. Murav'ev // Intellektual'nye sistemy v proizvodstve. - 2014. - № 2. - S. 96-102.
8. Kuznetsova, V.A. Vliyanie kachestva korpusa oksidno-poluprovodnikovykh tantalovykh chipkondensatorov na ekspluatatsionnye parametry / E.A. Belyaeva, V.V. Murav'ev // Intellektual'nye sistemy v proizvodstve. - 2014. - № 2. - S. 112-115.
9. Kuznetsova, V.A. Vliyanie konstruktivnykh kharakteristik anoda na ekspluatatsionnye parametry oksidno-poluprovodnikovykh tantalovykh chip-kondensatorov / E.A. Belyaeva, V.V. Murav'ev // Vestnik Izhevskogo gosudarstvennogo tekhnicheskogo universiteta. - 2014. - № 4. - S. 105-107.
10. Radyushkin, O. Metody otsenki sroka ekspluatatsii elektroliticheskikh kondensatorov / O. Radyushkin. - Silovaya elektronika. - 2010. - № 5. - S. 19-22.
Рецензия
Для цитирования:
Кузнецов П.Л., Муравьев В.В. КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКИХ ТАНТАЛОВЫХ КОНДЕНСАТОРОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СТРЕСС-ТЕСТА. Приборы и методы измерений. 2015;6(1):76-80. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2015-6-1-12-122
For citation:
Kuznetsov P.L., Muraviev V.V. THE QUALITY CONTROL OF ELECTROLYTIC TANTALUM CAPACITORS BY USING THE STRESS TEST. Devices and Methods of Measurements. 2015;6(1):76-80. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/2220-9506-2015-6-1-12-122
ISSN 2414-0473 (Online)