pimiПриборы и методы измеренийDevices and Methods of Measurements2220-95062414-0473BNTU10.21122/2220-9506-2015-6-1-12-122pimi-208Research ArticleМетоды измерений, контроля, диагностикиMethods of measurements, monitoring, diagnosticsКОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКИХ ТАНТАЛОВЫХ КОНДЕНСАТОРОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СТРЕСС-ТЕСТАTHE QUALITY CONTROL OF ELECTROLYTIC TANTALUM CAPACITORS BY USING THE STRESS TESTКузнецовП. Л.KuznetsovP. L.pmkk@istu.ruМуравьевВ. В.MuravievV. V.pmkk@istu.ruИжевский государственный технический университет имени М.Т. КалашниковаРоссияKalashnikov Izhevsk State Technical UniversityRussian Federation201503082015617680Copyright © Кузнецов П.Л., Муравьев В.В., 20152015Кузнецов П.Л., Муравьев В.В.Kuznetsov P.L., Muraviev V.V.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://pimi.bntu.by/jour/article/view/208

Рассматривается ускоренный способ анализа качества электролитических объемнопористых танталовых конденсаторов на основе прогноза изменения эквивалентного последовательного сопротивления при проведении СТРЕСС-ТЕСТА. 

The article discusses the accelerated method of analysis the electrolytic tantalum capacitors quality on the basis of the change equivalent series resistance forecast while conducting the STRESS TEST.

танталовый конденсаторемкостьэквивалентное сопротивлениеtantalum capacitorcapacitanceequivalent resistanceReferencesFritzler, T. Scintillation Conditioning of Tantalum Capacitors With Manganese Dioxide Cathodes, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability (Impact Factor: 1.54) / T. Fritzler, M.H. Azarian, M.G. Pecht. – 01/2014; 14(2):630-638. DOI: 10.1109/ TDMR.2014.2314731.T. Fritzler, M.H. Azarian, M.G. Pecht. Scintillation Conditioning of Tantalum Capacitors With Manganese Dioxide Cathodes, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability (Impact Factor: 1.54). 01/2014; 14(2):630-638. DOI: 10.1109/TDMR.2014.2314731.Franco, F. Di. Characterization of the Solid State Properties of Anodic Oxides on Magnetron Sputtered Ta, Nb and Ta-Nb Alloys / F. Di Franco [et al.] // Journal of The Electrochemical Society. – 2012.– Vol. 159(1). – P. 33–39.F. Di Franco, G. Zampardi, M. Santamaria, F. Di Quarto, and H. Habazaki. Characterization of the Solid State Properties of Anodic Oxides on Magnetron Sputtered Ta, Nb and Ta-Nb Alloys, Journal of The Electrochemical Society, 2012, vol. 159(1), pp. 33–39.Кузнецова, В.А. Исследование надежности танталовых оксидно-полупроводниковых чипконденсаторов на основе экспериментальных данных / В.А. Кузнецова, П.Л. Кузнецов, В.В. Муравьев // Вестник Ижевского государственного технического университета. – 2013. – № 3. – С. 88–91.Kuznecova V.A., Kuznecov P.L., Muraviev V.V. Investigation of the reliability of tantalum chip capacitors on the basis of experimental data. Vestnik Izhevskogo gosudarstvennogo tekhnicheskogo universiteta, 2013, no. 3, pp. 88–91 (in Russian).Кузнецов, П.Л. Исследование влияния характеристик технологического процесса изготовления на изменения эксплуатационных характеристик танталовых объемно-пористых конденсаторов во времени / П.Л. Кузнецов, В.А. Кузнецова, Г.В. Ломаев // Вестник Ижевского государственного технического университета. – 2014. – № 1. – С. 11–15.Kuznecov P.L., Kuznecova V.A., Lomaev G.V. Research of influence of characteristics of technological process of production on changes of operational characteristics of tantalum wet capacitors in time. Vestnik Izhevskogo gosudarstvennogo tekhnicheskogo universiteta, 2014, no. 1, pp. 11–15 (in Russian).Кузнецова, В.А. Исследование влияния на эксплуатационные характеристики качества материалов танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов / В.А. Кузнецова [и др.] // Интеллектуальные системы в производстве. – 2013. – № 2. – С. 140–143.Kuznecova V.A., Kuznecov P.L., Belyaeva E.A., Muraviev V.V. Investigation of the influence on the performance quality of the materials tantalum chip capacitors. Intellektual’nye sistemy v proizvodstve, 2013, no. 2, pp. 140–143 (in Russian).Беляева, Е.А. Исследование влияния срока сохраняемости на эксплуатационные характеристики и состояние объемно-пористых танталовых конденсаторов / Е.А. Беляева, В.А. Кузнецова, В.В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – № 1. – С. 96–99.Belyaeva E.A., Kuznecova V.A., Muraviev V.V. Investigation of the influence of storage time on the performance and status of the tantalum capacitors. Intellektual’nye sistemy v proizvodstve, 2014, no. 1, pp. 96–99 (in Russian).Беляева, Е.А. Влияние переменной синусоидальной составляющей пульсирующего напряжения при оксидировании объемно-пористых анодов танталовых конденсаторов на электрические параметры / Е.А. Беляева, В.В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – № 2. – С. 96–102.Belyaeva E.A., Muraviev V.V. The influence of variable sinusoidal component of the pulsating voltage when the oxidation of the space-porous anodes of tantalum capacitors for electrical parameters. Intellektual’nye sistemy v proizvodstve, 2014, no. 2, pp. 96–102 (in Russian).Кузнецова, В.А. Влияние качества корпуса оксидно-полупроводниковых танталовых чипконденсаторов на эксплуатационные параметры / Е.А. Беляева, В.В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – № 2. – С. 112–115.Kuznecova V.A., Muraviev V.V. The influence of the quality of the case tantalum chip capacitors on operating parameters. Intellektual’nye sistemy v proizvodstve, 2014, no. 2, pp. 112–115 (in Russian).Кузнецова, В.А. Влияние конструктивных характеристик анода на эксплуатационные параметры оксидно-полупроводниковых танталовых чип-конденсаторов / Е.А. Беляева, В.В. Муравьев // Вестник Ижевского государственного технического университета. – 2014. – № 4. – С. 105–107.Kuznecova V.A., Muraviev V.V. The influence of structural characteristics of the anode on the operational parameters of the tantalum chip capacitors. Vestnik Izhevskogo gosudarstvennogo tekhnicheskogo universiteta. 2014, no. 4, pp. 105–107 (in Russian).Радюшкин, О. Методы оценки срока эксплуатации электролитических конденсаторов / О. Радюшкин. – Силовая электроника. – 2010. – № 5. – С. 19–22.Radyushkin O. Methods of estimating period of exploitation of electrolytic capacitors. Silovaya elektronika, 2010, no. 5, pp. 19–22 (in Russian).

The authors declare that there are no conflicts of interest present.