Preview

Devices and Methods of Measurements

Advanced search

SCANNING PROBE TECHNIQUES IN MICRO- AND NANOMECHANICS

Abstract

Methods of materials local physics and mechanics properties estimation on the nanoscale are considered. The methods are realized on the base of AFM with surface mapping contrast, static and dynamics force spectroscopy and with the procedures of nanowear and oscillating microtribometry.

About the Authors

S. A. Chizhik
Belarusian National Technical University
Belarus


S. V. Siroezhlin
Институт теплои массообмена им. А.В. Лыкова НАН Беларуси
Belarus


References

1. Елецкий, А. В. Механические свойства углеродных наноструктур и материалов на их основе / А. В. Елецкий // Успехи физических наук. 2007. – Т. 117. №3. – С. 233 – 274.

2. Bhushan, B. Applied Scanning Probe Methods / B. Bhushan, H. Fuchs, S. Hosaka // Springe, 2002. – 475 p.

3. Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В. Л. Миронов; Институт физики микроструктур РАН. – Нижний Новгород, 2004. – 110 с.

4. Суслов, А. А. Сканирующие зондовые микроскопы / А. А. Суслов, С. А.Чижик // Материалы, технологии, инструменты. – 1997. – №3 – С. 78–89.

5. Чижик, С. А. Комплексная характеризация материалов методом сканирующей зондовой микроскопии / С. А. Чижик // Теплои массоперенос-2003 Минск : Институт теплои массообмена им. А.В. Лыкова НАН Беларуси. – 2003. – С. 226 – 232.

6. Binnig, G. Scanning tunneling microscopy / G. Binnig, H. Rohrer // Helvetica Physica Acta. – 1982. №55 – Р. 726.

7. Binnig, G. Atomic force microscopy / G. Binnig, C. F. Quate, Ch. Gerber // Phys. Rev. Lett. – 1986. №56 (9). – Р. 930.

8. Burnham, N., Colton, R. J. Measuring the nanomechanical properties and surface forces of materials using an atomic force microscope / N. Burnham, R. J. Colton // J.Vac. Sci. Technol. – 1989. – A 7. – Р. 2906 – 13.

9. Chizhik, S. A. Micromechanical properties of elastic polymeric materials as probed by scanning force microscopy / S. A. Chizhik [ets.] // Langmuir. – 1998. – Vol. 14 – № 9. – P. 3012 – 3015.

10. Ahn, H.S. Application of phase contrast imaging atomic force microscopy to tribofilms on DLC coatings / H. S. Ahn // Wear. – 2001. – №249. – Р. 617–625.


Review

For citations:


Chizhik S.A., Siroezhlin S.V. SCANNING PROBE TECHNIQUES IN MICRO- AND NANOMECHANICS. Devices and Methods of Measurements. 2010;(1):85-94. (In Russ.)

Views: 1828


Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2220-9506 (Print)
ISSN 2414-0473 (Online)