SCANNING PROBE TECHNIQUES IN MICRO- AND NANOMECHANICS
Abstract
Methods of materials local physics and mechanics properties estimation on the nanoscale are considered. The methods are realized on the base of AFM with surface mapping contrast, static and dynamics force spectroscopy and with the procedures of nanowear and oscillating microtribometry.
About the Authors
S. A. ChizhikBelarus
S. V. Siroezhlin
Belarus
References
1. Елецкий, А. В. Механические свойства углеродных наноструктур и материалов на их основе / А. В. Елецкий // Успехи физических наук. 2007. – Т. 117. №3. – С. 233 – 274.
2. Bhushan, B. Applied Scanning Probe Methods / B. Bhushan, H. Fuchs, S. Hosaka // Springe, 2002. – 475 p.
3. Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В. Л. Миронов; Институт физики микроструктур РАН. – Нижний Новгород, 2004. – 110 с.
4. Суслов, А. А. Сканирующие зондовые микроскопы / А. А. Суслов, С. А.Чижик // Материалы, технологии, инструменты. – 1997. – №3 – С. 78–89.
5. Чижик, С. А. Комплексная характеризация материалов методом сканирующей зондовой микроскопии / С. А. Чижик // Теплои массоперенос-2003 Минск : Институт теплои массообмена им. А.В. Лыкова НАН Беларуси. – 2003. – С. 226 – 232.
6. Binnig, G. Scanning tunneling microscopy / G. Binnig, H. Rohrer // Helvetica Physica Acta. – 1982. №55 – Р. 726.
7. Binnig, G. Atomic force microscopy / G. Binnig, C. F. Quate, Ch. Gerber // Phys. Rev. Lett. – 1986. №56 (9). – Р. 930.
8. Burnham, N., Colton, R. J. Measuring the nanomechanical properties and surface forces of materials using an atomic force microscope / N. Burnham, R. J. Colton // J.Vac. Sci. Technol. – 1989. – A 7. – Р. 2906 – 13.
9. Chizhik, S. A. Micromechanical properties of elastic polymeric materials as probed by scanning force microscopy / S. A. Chizhik [ets.] // Langmuir. – 1998. – Vol. 14 – № 9. – P. 3012 – 3015.
10. Ahn, H.S. Application of phase contrast imaging atomic force microscopy to tribofilms on DLC coatings / H. S. Ahn // Wear. – 2001. – №249. – Р. 617–625.
Review
For citations:
Chizhik S.A., Siroezhlin S.V. SCANNING PROBE TECHNIQUES IN MICRO- AND NANOMECHANICS. Devices and Methods of Measurements. 2010;(1):85-94. (In Russ.)