pimiПриборы и методы измеренийDevices and Methods of Measurements2220-95062414-0473BNTUpimi-187Research ArticleМетоды измерений, контроля, диагностикиMethods of measurements, monitoring, diagnosticsМЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ В МИКРО- И НАНОМЕХАНИКЕSCANNING PROBE TECHNIQUES IN MICRO- AND NANOMECHANICSЧижикС. А.ChizhikS. A.pimi@bntu.byСыроежкинС. В.SiroezhlinS. V.pimi@bntu.byБелорусский национальный технический университетБеларусьBelarusian National Technical UniversityBelarusИнститут теплои массообмена им. А.В. Лыкова НАН БеларусиBelarus201029042015018594Copyright © Чижик С.А., Сыроежкин С.В., 20152015Чижик С.А., Сыроежкин С.В.Chizhik S.A., Siroezhlin S.V.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://pimi.bntu.by/jour/article/view/187

Methods of materials local physics and mechanics properties estimation on the nanoscale are considered. The methods are realized on the base of AFM with surface mapping contrast, static and dynamics force spectroscopy and with the procedures of nanowear and oscillating microtribometry.

ReferencesЕлецкий, А. В. Механические свойства углеродных наноструктур и материалов на их основе / А. В. Елецкий // Успехи физических наук. 2007. – Т. 117. №3. – С. 233 – 274.Елецкий, А. В. Механические свойства углеродных наноструктур и материалов на их основе / А. В. Елецкий // Успехи физических наук. 2007. – Т. 117. №3. – С. 233 – 274.Bhushan, B. Applied Scanning Probe Methods / B. Bhushan, H. Fuchs, S. Hosaka // Springe, 2002. – 475 p.Bhushan, B. Applied Scanning Probe Methods / B. Bhushan, H. Fuchs, S. Hosaka // Springe, 2002. – 475 p.Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В. Л. Миронов; Институт физики микроструктур РАН. – Нижний Новгород, 2004. – 110 с.Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В. Л. Миронов; Институт физики микроструктур РАН. – Нижний Новгород, 2004. – 110 с.Суслов, А. А. Сканирующие зондовые микроскопы / А. А. Суслов, С. А.Чижик // Материалы, технологии, инструменты. – 1997. – №3 – С. 78–89.Суслов, А. А. Сканирующие зондовые микроскопы / А. А. Суслов, С. А.Чижик // Материалы, технологии, инструменты. – 1997. – №3 – С. 78–89.Чижик, С. А. Комплексная характеризация материалов методом сканирующей зондовой микроскопии / С. А. Чижик // Теплои массоперенос-2003 Минск : Институт теплои массообмена им. А.В. Лыкова НАН Беларуси. – 2003. – С. 226 – 232.Чижик, С. А. Комплексная характеризация материалов методом сканирующей зондовой микроскопии / С. А. Чижик // Теплои массоперенос-2003 Минск : Институт теплои массообмена им. А.В. Лыкова НАН Беларуси. – 2003. – С. 226 – 232.Binnig, G. Scanning tunneling microscopy / G. Binnig, H. Rohrer // Helvetica Physica Acta. – 1982. №55 – Р. 726.Binnig, G. Scanning tunneling microscopy / G. Binnig, H. Rohrer // Helvetica Physica Acta. – 1982. №55 – Р. 726.Binnig, G. Atomic force microscopy / G. Binnig, C. F. Quate, Ch. Gerber // Phys. Rev. Lett. – 1986. №56 (9). – Р. 930.Binnig, G. Atomic force microscopy / G. Binnig, C. F. Quate, Ch. Gerber // Phys. Rev. Lett. – 1986. №56 (9). – Р. 930.Burnham, N., Colton, R. J. Measuring the nanomechanical properties and surface forces of materials using an atomic force microscope / N. Burnham, R. J. Colton // J.Vac. Sci. Technol. – 1989. – A 7. – Р. 2906 – 13.Burnham, N., Colton, R. J. Measuring the nanomechanical properties and surface forces of materials using an atomic force microscope / N. Burnham, R. J. Colton // J.Vac. Sci. Technol. – 1989. – A 7. – Р. 2906 – 13.Chizhik, S. A. Micromechanical properties of elastic polymeric materials as probed by scanning force microscopy / S. A. Chizhik [ets.] // Langmuir. – 1998. – Vol. 14 – № 9. – P. 3012 – 3015.Chizhik, S. A. Micromechanical properties of elastic polymeric materials as probed by scanning force microscopy / S. A. Chizhik [ets.] // Langmuir. – 1998. – Vol. 14 – № 9. – P. 3012 – 3015.Ahn, H.S. Application of phase contrast imaging atomic force microscopy to tribofilms on DLC coatings / H. S. Ahn // Wear. – 2001. – №249. – Р. 617–625.Ahn, H.S. Application of phase contrast imaging atomic force microscopy to tribofilms on DLC coatings / H. S. Ahn // Wear. – 2001. – №249. – Р. 617–625.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.