1. Eletskii, A. V. Mekhanicheskie svoistva uglerodnykh nanostruktur i materialov na ikh osnove / A. V. Eletskii // Uspekhi fizicheskikh nauk. 2007. - T. 117. №3. - S. 233 - 274.
2. Bhushan, B. Applied Scanning Probe Methods / B. Bhushan, H. Fuchs, S. Hosaka // Springe, 2002. - 475 p.
3. Mironov, V. L. Osnovy skaniruyushchei zondovoi mikroskopii / V. L. Mironov; Institut fiziki mikrostruktur RAN. - Nizhnii Novgorod, 2004. - 110 s.
4. Suslov, A. A. Skaniruyushchie zondovye mikroskopy / A. A. Suslov, S. A.Chizhik // Materialy, tekhnologii, instrumenty. - 1997. - №3 - S. 78-89.
5. Chizhik, S. A. Kompleksnaya kharakterizatsiya materialov metodom skaniruyushchei zondovoi mikroskopii / S. A. Chizhik // Teploi massoperenos-2003 Minsk : Institut teploi massoobmena im. A.V. Lykova NAN Belarusi. - 2003. - S. 226 - 232.
6. Binnig, G. Scanning tunneling microscopy / G. Binnig, H. Rohrer // Helvetica Physica Acta. - 1982. №55 - R. 726.
7. Binnig, G. Atomic force microscopy / G. Binnig, C. F. Quate, Ch. Gerber // Phys. Rev. Lett. - 1986. №56 (9). - R. 930.
8. Burnham, N., Colton, R. J. Measuring the nanomechanical properties and surface forces of materials using an atomic force microscope / N. Burnham, R. J. Colton // J.Vac. Sci. Technol. - 1989. - A 7. - R. 2906 - 13.
9. Chizhik, S. A. Micromechanical properties of elastic polymeric materials as probed by scanning force microscopy / S. A. Chizhik [ets.] // Langmuir. - 1998. - Vol. 14 - № 9. - P. 3012 - 3015.
10. Ahn, H.S. Application of phase contrast imaging atomic force microscopy to tribofilms on DLC coatings / H. S. Ahn // Wear. - 2001. - №249. - R. 617-625.