Для цитирования:

Камышан А.С., Комаров Ф.Ф., Данилевич В.В., Гришан П.А. КОМПЛЕКС ДЛЯ ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА ПРИПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ С НАНОМЕТРОВЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ ПО ГЛУБИНЕ. Приборы и методы измерений. 2010;(1):17-22.

For citation:

Kamyshan A.S., Komarov F.F., Danilevich V.V., Grishan P.A. COMPLEX FOR ELEMENTAL ANALYSIS OF SUBSURFACE LAYERS WITH NANOMETER DEPTH RESOLUTION. Devices and Methods of Measurements. 2010;(1):17-22. (In Russ.)