THE IDENTIFICATION ALGORITHM OF METROLOGICAL CHARACTERISTICS OF WIDE-RANGE PHOTOVOLTAIC SEMICONDUCTOR CONVERTERS WITH MULTIPLY IMPURITIES
Abstract
Metrological features of photovoltaic semiconductor converters (PSC) based on semiconductors with the multiple-charge impurities are investigated in a wide range of power densities of optical radiation. The algorithm of the measurement procedure of the metrological characteristics of PSC is introduced not only at low densities of optical power, but at high, taking into account the boundary of nonlinear recombination. The estimation of accuracy of feature finding of the metrological characteristics PSC based on semiconductors with the multiple-charge impurities, is carried out, taking into consideration the area of nonlinear recombination.
About the Authors
O. K. Gusev
Belarusian National Technical University
Belarus
Belarus
A. I. Svistun
Belarusian National Technical University
Belarus
Belarus
L. I. Shadurskaya
Belarusian National Technical University
Belarus
Belarus
N. V. Yarjembitskaya
Belarusian National Technical University
Belarus
Belarus
References
1. Арутюнов, В.А. Перспективы разработок монолитных охлаждаемых матричных ИК-приборов для комплексированных многоспектральных систем обнаружения в диапазонах 1,5–5 и 8–12 мкм / В.А. Арутюнов [и др.] // Прикладная физика. – 2005. – Вып. 5. – С. 84–91.
2. Semiconductor and integrate optoelectronics. Conference, Cardiff 2005. – IEEE Proc. Optoelectron. 2006. – № 1. – 146 р.
3. Ермаков, О.Н. Прикладная оптоэлектроника / О.Н. Ермаков. – М. : Техносфера, 2004. – 416 с.
4. Гусев, О.К. Моделирование метрологических характеристик фотоэлектрических преобразователей на основе полупроводников с глубокими примесями / О.К. Гусев, Л.И. Шадурская, Н.В. Яржембицкая // Метрология и приборостроение. – 2008. – № 2. – С. 22–25.
5. Гусев, О.К. Влияние плотности мощности оптического излучения на динамические метрологические характеристики фотоэлектрических полупроводниковых преобразователей с многозарядными примесями / О.К. Гусев [и др.] // Метрология и приборостроение. – 2009. – № 3. – С. 13–16.
6. Гусев, О.К. Проектирование и управление метрологическими характеристиками фотоэлектрических преобразователей на основе полупроводников с многозарядными примесями / О.К. Гусев [и др.] // Датчики и системы. − 2011. – № 1. − С. 19−24.
7. ГОСТ 17772-88. Приемники излучения полупроводниковые. Фотоэлектрические и фотоприемные устройства.
Review
For citations:
Gusev O.K., Svistun A.I., Shadurskaya L.I., Yarjembitskaya N.V. THE IDENTIFICATION ALGORITHM OF METROLOGICAL CHARACTERISTICS OF WIDE-RANGE PHOTOVOLTAIC SEMICONDUCTOR CONVERTERS WITH MULTIPLY IMPURITIES. Devices and Methods of Measurements. 2011;(2):99-103. (In Russ.)
Views:
904
Email this article 