Для цитирования:

Абетковская С.О., Чижик С.А., Юй Г., Лапицкая В.А. Комплексное влияние параметров системы зонд– образец на режим колебаний зонда и формирование биустойчивости в полуконтактной атомно-силовой микроскопии. Приборы и методы измерений. 2026;17(2):141-150. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2026-17-2-141-150

For citation:

Abetkovskaia S.O., Chizhik S.A., Yu G., Lapitskaya V.A. Complex Influence of Probe–Sample System Parameters on the Probe Oscillation Mode and Formation of Bistability in Tapping Atomic Force Microscopy. Devices and Methods of Measurements. 2026;17(2):141-150. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2026-17-2-141-150