Preview

Приборы и методы измерений

Расширенный поиск

МОДЕЛИРОВАНИЕ ПАРАЗИТНОЙ ЕМКОСТИ И НАВОДОК НА ЧУВСТВИТЕЛЬНОМ ЭЛЕМЕНТЕ ЗОНДА КЕЛЬВИНА

https://doi.org/10.21122/2220-9506-2014-0-1-17-25

Аннотация

Влияние паразитных емкостей на характеристики чувствительного элемента вибрирующего зонда Кельвина исследовалось с помощью методов математического и компьютерного моделирования. Показано, что присутствие в непосредственной близости от вибрирующего зонда Кельвина металлических поверхностей, в том числе заземленных, приводит к формированию на его входе паразитного сигнала наводки сложного гармонического состава. Среднее значение и амплитуда данного паразитного сигнала зависят главным образом от отношения зазоров в паразитном и измерительном конденсаторах Кельвина d1/d0. Разработанная модель может использоваться для теоретического анализа конструктивных параметров проектируемого зонда Кельвина и входных цепей зондового электрометра.

Об авторах

С. Дэнилак
Технологический институт штата Джорджия, Атланта
Соединённые Штаты Америки


А. В. Дубаневич
Белорусский национальный технический университет
Беларусь


О. К. Гусев
Белорусский национальный технический университет
Беларусь


А. И. Свистун
Белорусский национальный технический университет
Беларусь


А. К. Тявловский
Белорусский национальный технический университет
Беларусь


К. Л. Тявловский
Белорусский национальный технический университет
Беларусь


Р. И. Воробей
Белорусский национальный технический университет
Беларусь


А. Л. Жарин
Белорусский национальный технический университет
Беларусь


Список литературы

1. Noras M.A. Charge Detection Methods for Dielectrics – Overview. Available at: http:// www.trek.com. (accessed 18.03.2012).

2. Taylor D.M. Measuring techniques for electrostatics. Journal of Electrostatics, 2001, no. 52, pp. 502–508.

3. Zharin A. L. Contact Potential Difference Techniques as Probing Tools in Tribology and Surface Mapping, in book: Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology (edited by B. Bhushan), Springer Heidelberg Dordrecht London New York, 2010, pp. 687–720.

4. Baikie I.D., Mackenzie S., Estrup P.J.Z., Meyer J.A. Noise and the Kelvin method Rev. Sci. Instrum, 1991, vol. 62, no. 5, pp. 1326–1332.

5. Hadjadj A., Rota i Cabarrocas P., Equer B. Analytical compensation of stray capacitance effect in Kelvin probe measurements. Rev. Sci. Instrum., 1995, vol. 66, no. 11, pp. 5272–5276.

6. Tyavlovsky A.K., Gusev O.K., Zharin A.L. [Metrological performance modeling of probe electrometers capacitive sensors]. Devices and methods of measurement, 2011, no. 1, pp. 122–127 (in Russian).

7. Tyavlovsky A.K. [Mathematical modeling of a distance dependence of a scanning Kelvin probe lateral resolution]. Devices and methods of measurement, 2012, no. 1, pp. 30–36 (in Russian).


Рецензия

Для цитирования:


Дэнилак С., Дубаневич А.В., Гусев О.К., Свистун А.И., Тявловский А.К., Тявловский К.Л., Воробей Р.И., Жарин А.Л. МОДЕЛИРОВАНИЕ ПАРАЗИТНОЙ ЕМКОСТИ И НАВОДОК НА ЧУВСТВИТЕЛЬНОМ ЭЛЕМЕНТЕ ЗОНДА КЕЛЬВИНА. Приборы и методы измерений. 2014;(1):94-98. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2014-0-1-17-25

For citation:


Danyluk S., Dubanevich A.V., Gusev O.K., Svistun A.I., Tyavlovsky A.K., Tyavlovsky K.L., Vorobey R.I., Zharin A.L. KELVIN PROBE’S STRAY CAPACITANCE AND NOISE SIMULATION. Devices and Methods of Measurements. 2014;(1):94-98. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2014-0-1-17-25

Просмотров: 2282


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2220-9506 (Print)
ISSN 2414-0473 (Online)