COMPENSATION OF MEASUREMENT ERRORS WHEN REDUCING LINEAR DIMENSIONS OF THE KELVIN PROBE
Abstract
About the Authors
A. K. TyavlovskyBelarus
A. L. Zharin
Belarus
References
1. Zharin, A. L. Contact Potential Difference Techniques as Probing Tools in Tribology and Surface Mapping // Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology (edited by B. Bhushan). – Springer : Heidelberg, Dordrecht, London, New York, 2010. – P. 687–720.
2. Жарин, А.Л. Метод контактной разности потенциалов и его применение в трибологии / А.Л. Жарин. – Минск : Бестпринт, 1996. – 240 с.
3. Тявловский, А.К. Моделирование метрологических характеристик емкостных первичных преобразователей средств зондовой электрометрии / А.К. Тявловский, О.К. Гусев, А.Л. Жарин // Приборы и методы измерений. – 2011. – № 1(2) – С. 122–127.
4. Taylor, D. M. Measuring techniques for electrostatics / D. M. Taylor // Journal of Electrostatics. – 2001. – № 51–52. – P. 502–508.
5. Surplice, N.A. A critique of the Kelvin method of measuring work functions / N.A. Surplice, R.J. D’Arcy // Journal of Physics E: Scientific Instruments. – 1970. – Vol. 3. – P. 477–482.
6. Baikie, I.D. Noice and the Kelvin method / I.D. Baikie, S. Mackenzie, P.J.Z. Estrup, J.A. Meyer // Rev. Sci. Instrum. – 1991. – № 62 (5). – P. 1326–1332.
Review
For citations:
Tyavlovsky A.K., Zharin A.L. COMPENSATION OF MEASUREMENT ERRORS WHEN REDUCING LINEAR DIMENSIONS OF THE KELVIN PROBE. Devices and Methods of Measurements. 2013;(2):35-41. (In Russ.)