Для цитирования:

Чижик С.А., Сыроежкин С.В. МЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ В МИКРО- И НАНОМЕХАНИКЕ. Приборы и методы измерений. 2010;(1):85-94.

For citation:

Chizhik S.A., Siroezhlin S.V. SCANNING PROBE TECHNIQUES IN MICRO- AND NANOMECHANICS. Devices and Methods of Measurements. 2010;(1):85-94. (In Russ.)