pimiПриборы и методы измеренийDevices and Methods of Measurements2220-95062414-0473BNTUpimi-32Research ArticleСредства измеренийMeasuring instrumentsОПТИЧЕСКИЙ МЕТОД И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРОПРОВОДНОСТИ ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВOPTICAL METHOD AND SET-UP FOR THE THERMAL DIFFUSIVITY MEASURMENT OF SOLID STATE MATERIALSКиселёвИ. Г.KisialiouI. G.i.kisialiou@gmail.comИвакинЕ. В.IvakinE. V.i.kisialiou@gmail.comИнститут физики им. Б.И. Степанова НАН БеларусиBelarus201330032015021216Copyright © Киселёв И.Г., Ивакин Е.В., 20152015Киселёв И.Г., Ивакин Е.В.Kisialiou I.G., Ivakin E.V.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://pimi.bntu.by/jour/article/view/32

Приводится принцип измерения температуропроводности твердых тел, в том числе тонких пленок, с помощью наведенных светом тепловых динамических решеток. Дается описание созданного лазерно-оптического комплекса, позволяющего производить на основе метода динамических решеток бесконтактные измерения температуропроводности. 

Application of light-induced thermal transient gratings for measurement of thermal diffusivity of solid state materials including thin films is presented. Laser-optical set-up, which allows non-contact measurement of thermal diffusivity by transient gratings′ method is described. The set-up was designed in B.I. Stepanov Institute of Physics of NAS of Belarus.

теплопроводностьтемпературопроводностьоптические методы измерениядинамические решеткиthermal conductivitythermal diffusivityoptical methodstransient gratingsReferencesParker, W.J. Method of Determining Thermal Diffusivity, Heat Capacity and Thermal Conductivity / W.J. Parker, R.J. Jenkins, C.P. Butler, G.L. Abbott // J. Appl. Phys. – 1961. – Vol. 32 (9). – P. 1679–1685.Parker, W.J. Method of Determining Thermal Diffusivity, Heat Capacity and Thermal Conductivity / W.J. Parker, R.J. Jenkins, C.P. Butler, G.L. Abbott // J. Appl. Phys. – 1961. – Vol. 32 (9). – P. 1679–1685.Bhusari, D.M. Traveling wave method for measurement of thermal conductivity of thin films / D.M. Bhusari, C.W. Teng, K.H. Chen [et al.] // Rev. Sci. Instrum. – 1997. – Vol. 68. – P. 4180–4183.Bhusari, D.M. Traveling wave method for measurement of thermal conductivity of thin films / D.M. Bhusari, C.W. Teng, K.H. Chen [et al.] // Rev. Sci. Instrum. – 1997. – Vol. 68. – P. 4180–4183.Taketoshi, N. Observation of Heat Diffusion across Submicrometer Metal Thin Films Using a Picosecond Thermoreflectance Technique / N. Taketoshi, T. Baba, A. Ono // Jpn. J. Appl. Phys. – 1999. – Vol. 38. – P. 1268–1271.Taketoshi, N. Observation of Heat Diffusion across Submicrometer Metal Thin Films Using a Picosecond Thermoreflectance Technique / N. Taketoshi, T. Baba, A. Ono // Jpn. J. Appl. Phys. – 1999. – Vol. 38. – P. 1268–1271.Käding, O.W. Transient thermal gratings at surfaces for thermal characterization of bulk materials and thin films / O.W. Käding, H. Skurk, A.A. Maznev, E. Matthias // App. Phys. A: Mat. Sc. Proc. – 1995. – Vol. 61 (3). – P. 253–261.Käding, O.W. Transient thermal gratings at surfaces for thermal characterization of bulk materials and thin films / O.W. Käding, H. Skurk, A.A. Maznev, E. Matthias // App. Phys. A: Mat. Sc. Proc. – 1995. – Vol. 61 (3). – P. 253–261.Charpentier, P. Photoacoustic measurements of thermal diffusivity description of the drum effect / P. Charpentier, F. Lepourte, L. Bertrand // J. Appl. Phys. – 1982. – Vol. 53. – P. 608–614.Charpentier, P. Photoacoustic measurements of thermal diffusivity description of the drum effect / P. Charpentier, F. Lepourte, L. Bertrand // J. Appl. Phys. – 1982. – Vol. 53. – P. 608–614.Ivakin, E.V. Out-of-plane thermal diffusivity measurement of transparent thin film by the acoustic grating excitation / E.V. Ivakin, M.U. Karelin, A.V. Sukhadolau // J. Appl. Phys. – 2009. – Vol. 105. – 113107.Ivakin, E.V. Out-of-plane thermal diffusivity measurement of transparent thin film by the acoustic grating excitation / E.V. Ivakin, M.U. Karelin, A.V. Sukhadolau // J. Appl. Phys. – 2009. – Vol. 105. – 113107.Johnson, J.A. Phase-controlled, heterodyne laser-induced transient grating measurements of thermal transport properties in opaque material / J.A. Johnson, A.A. Maznev, M.T. Bulsara [et al.] // J. Appl. Phys. – 2012. – Vol. 111. – 023503.Johnson, J.A. Phase-controlled, heterodyne laser-induced transient grating measurements of thermal transport properties in opaque material / J.A. Johnson, A.A. Maznev, M.T. Bulsara [et al.] // J. Appl. Phys. – 2012. – Vol. 111. – 023503.Ивакин, Е.В. Измерение теплопроводности поликристаллического CVD-алмаза методом импульсных динамических решеток / Е.В. Ивакин, А.В. Суходолов, В.Г. Ральченко [и др.] // Квант. электрон. – 2002. – 32. – С. 367–372.Ивакин, Е.В. Измерение теплопроводности поликристаллического CVD-алмаза методом импульсных динамических решеток / Е.В. Ивакин, А.В. Суходолов, В.Г. Ральченко [и др.] // Квант. электрон. – 2002. – 32. – С. 367–372.Патент на изобретение Республики Беларусь №16130, рег. 2012.04.10, Е.В. Ивакин, И.Г. Киселев.Патент на изобретение Республики Беларусь №16130, рег. 2012.04.10, Е.В. Ивакин, И.Г. Киселев.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.