КОНТРОЛЬ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ, ОБРАБОТАННЫХ АЛМАЗНЫМ НАНОТОЧЕНИЕМ, ПО РАБОТЕ ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА

Полный текст:


Аннотация

Технология размерной обработки резанием базируется на использовании интегральных геометрических параметров поверхности твердого тела. Технологическое воздействие резца приводит к процессам окисления и изменению физико-химических параметров поверхности. Для описания характеристик обработки и формирования сверхгладких поверхностей контроль геометрических параметров оказывается недостаточным. Поэтому используется параметр работа выхода электрона. Целью работы являлось исследование электрофизического состояния оптических поверхностей цветных металлов и сплавов в совокупности с геометрическими и физико-химическими параметрами по распределению работы выхода электрона поверхности. Исследование проводилось на экспериментальных образцах из меди и алюминиевого сплава, обработанных по технологии алмазного наноточения. Технология алмазного наноточения позволяет обеспечить шероховатость обработки цветных металлов и сплавов на уровне Ra ≤ 0,005 мкм. В качестве метода регистрации изменений по поверхности работы выхода электрона использовался модернизированный зонд Кельвина. Определена зависимость величины работы выхода электрона и ее изменение от физико-химических и геометрических параметров поверхности. Показано, что технология алмазного наноточения позволяет получать элетрофизически однородные оптические поверхности на меди и алюминиевом сплаве с минимальным разбросом распределения по поверхности электропотенциала. 


Об авторах

Г. В. Шаронов
Институт прикладных физических проблем им. А.Н. Севченко Белорусского государственного университета
Беларусь


А. Л. Жарин
Белорусский национальный технический университет
Беларусь


Н. И. Мухуров
Институт физики им. Б.И. Степанова НАН Беларуси
Беларусь


К. В. Пантелеев
Белорусский национальный технический университет
Россия

Адрес для переписки: Пантелеев К.В. Белорусский национальный технический университет, пр. Независимости, 65, 220013, Минск, Беларусь e-mail: nil_pt@bntu.by



Список литературы

1. Zharin, A.L. Contact Potential Difference Techniques As Probing Tools in Tribology and Surface Mapping / A.L. Zharin // Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology. – Heidelberg : Springer-Verlag, 2010. – P. 687–720.

2. Жарин, А.Л. Метод контактной разности потенциалов и его применение в трибологии / А.Л. Жарин. – Минск : Изд-во Беспринт, 1996. – С. 235.

3. Жарин, А.Л. Методы зондовой электрометрии для разработки и исследования свойств перспективных материалов / А.Л. Жарин // Перспективные материалы и технологии: монография : в 2 т. / А.Л. Жарин, К.В. Пантелеев, А.К. Тявловский. – Витебск : Изд-во ВГТУ, 2015. – Т. 1. – 398 с.

4. Predicting surface roughness in machining: a review / P.G. Benardos, G.-C. Vosniakos // Int. J. of Machine Tools and Manufacture. – 2003. – Vol. 43, № 8. – P. 833–844.

5. On the correlation between surface roughness and work function in copper / W. Li, D.Y. Li // J. Chem. Phys. – 2005. – Vol. 122, № 6. – P. 81–86.

6. Назаров, Ю.Ф. Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов / Ю.Ф. Назаров, А.М. Шкилько, В.В. Тихоненко, И.В. Компанеец // Физическая инженерия поверхности. – 2007. – Т. 5. – № 3–4. – С. 206–216.

7. Диагностика локальных изменений пластической деформации по работе выхода электрона / К.В. Пантелеев, А.И. Свистун, А.Л. Жарин // Приборы и методы измерений. – 2015. – № 1 (10). – С. 56–63.

8. Анализ способов обработки поверхностно-пластическим деформированием / А.В. Ежелев, И.Н. Бобровский, А.А. Лукьянов // Фундаментальные исследования. – 2012. – № 6–3. – С. 642–646.

9. Zharin, A.L. Application Macroand Micro Kelvin Probe in Tribological Studies / A.L. Zharin // Fundamentals of Tribology and Bridging the Gap between the Macroand Micro/Nanoscales. – Netherland : Kliwer Academic Publishers, 2001. – P. 445–466.

10. Tyavlovsky, A.K. Kelvin probe error compensation based jn harmonic analysis of mwasurement signal / A.K. Tyavlovsky and et al. / Przeglad Elektrotechniczny, 2014. – No. 3. – P. 251–254.

11. Ультрафиолетовые детекторы на основе эпитаксиальных алмазных пленок, выращенных на монокристаллических алмазных подложках методом газофазного синтеза / Г.В. Шаронов [и др.] // Журнал прикладной спектроскопии. – 2010. – Т. 76, № 5. – С. 714 719.


Дополнительные файлы

Для цитирования: Шаронов Г.В., Жарин А.Л., Мухуров Н.И., Пантелеев К.В. КОНТРОЛЬ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ, ОБРАБОТАННЫХ АЛМАЗНЫМ НАНОТОЧЕНИЕМ, ПО РАБОТЕ ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА. Приборы и методы измерений. 2015;6(2):196-203.

For citation: Sharonov G.V., Zharin A.L., Muhurov N.I., Pantsialeyeu K.U. CONTROL OF METAL SURFACES MACHINED IN ACCORDANCE WITH THE DIAMOND NANOMACHINING TECHNOLOGY BASED ON THE ELECTRON WORK FUNCTION. Devices and Methods of Measurements. 2015;6(2):196-203. (In Russ.)

Просмотров: 941

Обратные ссылки

  • Обратные ссылки не определены.


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.

ISSN 2220-9506 (Print)
ISSN 2414-0473 (Online)